用于优化峰形的系统和方法

发明专利有效专利

申请号：
CN201980007858.1
IPC分类号：G01N27/62;H01J49/26
申请日期：
2019-01-08
申请人：
ATONARP株式会社

基础信息

权利要求

说明书

PDF全文

法律信息

引证文献

著录项信息

专利名称	用于优化峰形的系统和方法
申请号	CN201980007858.1	申请日期	2019-01-08
法律状态	实质审查	申报国家	中国
公开/公告日	2020-08-28	公开/公告号	CN111602048A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01N27/62 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01N （除免疫测定法以外包括酶或微生物的测量或试验入C12M，C12Q） G01N27/00 用电、电化学或磁的方法测试或分析材料（G01N 3/00至G01N 25/00优先；电或磁变量的测量或试验，材料的电磁性能的测试或试验入G01R） G01N27/62 通过测试气体的电离，通过测试放电，例如阴极发射	IPC分类号	G;0;1;N;2;7;/;6;2;;;H;0;1;J;4;9;/;2;6查看分类表>
申请人	ATONARP株式会社	申请人地址	日本东京都变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	ATONARP株式会社	当前权利人	ATONARP株式会社
发明人	K·R·马塔希尔
代理机构	北京林达刘知识产权代理事务所（普通合伙）	代理人	暂无

摘要

系统(110)包括第一类型的传感器(104)以及连接至第一类型的传感器(104)的估计系统(106)。估计系统(106)被配置为(a)使用机器学习、在添加了噪声的情况下通过分析已知气体混合物中的表征数据来识别用于估计已知气体混合物的最佳峰形；(b)使用标准气体混合物针对数个不同实例在第一类型的传感器(104)中生成多个实际峰形，以将多个实际峰形中的实际峰形提供作为用以校准第一类型的传感器(104)的校准输入；以及(c)通过自动调整第一类型的传感器(104)的参数从而将实际峰形优化为与期望峰形相匹配，来校准第一类型的传感器(104)。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有被任何外部专利所引用！

我浏览过的专利

专利服务由北京酷爱智慧知识产权代理公司提供