用于选择测试模式输出通道的测试布置及方法

发明专利无效专利

申请号：
CN200410068342.3
IPC分类号：G01R31/28;G01R31/3181;G06F11/22;H03M7/30
申请日期：
2004-08-31
申请人：
印芬龙科技股份有限公司

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著录项信息

专利名称	用于选择测试模式输出通道的测试布置及方法
申请号	CN200410068342.3	申请日期	2004-08-31
法律状态	权利终止	申报国家	中国
公开/公告日	2005-03-09	公开/公告号	CN1591035
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01R31/28 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01R 测量电变量；测量磁变量（指示谐振电路的正确调谐入H03J 3/12） G01R31/00 电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置（在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L 21/66；线路传输系统的测试入H04B 3/46） G01R31/28 电路的测试，例如用信号故障寻测器（在准备运算或空闲时间期间内测试计算机入G06F11/22）	IPC分类号	G;0;1;R;3;1;/;2;8;;;G;0;1;R;3;1;/;3;1;8;1;;;G;0;6;F;1;1;/;2;2;;;H;0;3;M;7;/;3;0查看分类表>
申请人	印芬龙科技股份有限公司	申请人地址	联邦德国慕尼黑变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	印芬龙科技股份有限公司	当前权利人	印芬龙科技股份有限公司
发明人	托马斯·芬特斯;比约恩·弗拉赫;克劳斯·霍夫曼;安德列斯·洛吉希;沃尔夫冈·鲁夫;马丁·施内尔
代理机构	北京康信知识产权代理有限责任公司	代理人	余刚;李丙林

摘要

一种用于测试待测电路单元(101、101a～101n)的测试布置，具有：测试设备，用于保持待测电路单元；输入/输出通道(DQ0～DQn)，用于将所述待测电路单元与所述测试设备相连，以及用于与所述待测电路单元交换测试数据；以及测试模式输出通道(103、103a～103n)，用于输出来自所述待测电路单元的测试结果数据(104、104a～104n)，其中在所述待测电路单元中设置至少一个转向单元(102、102a～102n)，用于将所述测试模式输出通道之一与所述输入/输出通道之一相连，从而可以将从所述待测电路单元输出的所述测试结果信号从所述待测电路单元转向所述输入/输出通道中指定的一个。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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