一种高精度二维轮廓测量方法

发明专利有效专利

申请号：
CN201511035061.2
IPC分类号：G01B11/24
申请日期：
2015-12-31
申请人：
天津市兆瑞测控技术有限公司

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著录项信息

专利名称	一种高精度二维轮廓测量方法
申请号	CN201511035061.2	申请日期	2015-12-31
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日	2016-06-15	公开/公告号	CN105674909A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01B11/24 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01B 长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量 G01B11/00 以采用光学方法为特征的计量设备（G01B 9/00组中包括的各式仪器本身入G01B 9/00）〔2〕 G01B11/24 用于计量轮廓或曲率	IPC分类号	G;0;1;B;1;1;/;2;4查看分类表>
申请人	天津市兆瑞测控技术有限公司	申请人地址	天津市南开区宜宾道40号海科大厦变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	天津市兆瑞测控技术有限公司	当前权利人	天津市兆瑞测控技术有限公司
发明人	邢中柱
代理机构	北京国昊天诚知识产权代理有限公司	代理人	刘昕

摘要

本发明提供一种高精度二维轮廓测量方法，包括以下步骤：先建立一个三维坐标系，将待测物置于三维坐标系的X轴向，在YZ平面内设置一个点光源，点光源可以扫描出具有一定宽度的平行光；点光源垂直于XZ平面发射光线，点光源发射的光线与待测物体相交则该交点为一个亮点，最终点光源发射的光线与待测物相交，并在YZ面中形成一条光轮廓曲线；通过面阵摄像机对光轮廓曲线成像，其光轴在XY平面中且经过原点B，光轴与YZ平面呈θ角；面阵摄像机接收Y轴与Z轴方向光轮廓曲线的光信号，经过映射变换得出某一时刻的待测物轮廓尺寸数据，映射变换与面阵摄像机的光心距离原点B的距离L无关。本发明的有益效果是：该设计使得测量更便捷，结果更精准。

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