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一种基于微环谐振器的器件的插入损耗的测量方法

发明专利有效专利
  • 申请号:
    CN202110520191.4
  • IPC分类号:G02B6/293;G02B6/125;G01M11/02
  • 申请日期:
    2021-05-13
  • 申请人:
    之江实验室;浙江大学
著录项信息
专利名称一种基于微环谐振器的器件的插入损耗的测量方法
申请号CN202110520191.4申请日期2021-05-13
法律状态授权申报国家中国
公开/公告日2021-08-10公开/公告号CN113238320A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号G02B6/293IPC分类号G;0;2;B;6;/;2;9;3;;;G;0;2;B;6;/;1;2;5;;;G;0;1;M;1;1;/;0;2查看分类表>
申请人之江实验室;浙江大学申请人地址
浙江省杭州市余杭区文一西路1818号 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人之江实验室,浙江大学当前权利人之江实验室,浙江大学
发明人唐伟杰;林思蕙;阮小可;储涛
代理机构北京志霖恒远知识产权代理有限公司代理人奚丽萍
摘要
本发明公开了一种基于微环谐振器的器件的插入损耗的测量方法,通过改变传统单环微环中的环形结构,将连接待测器件的微环谐振器得到的光谱与没有连接待测器件的微环谐振器得到的光谱进行比较和计算,进而得到插入器件的损耗,这种方法可以减小器件损耗测试所占用的芯片面积,提高测量精度,对于低损耗波导特别适用。

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