一种用于辉光放电质谱分析的笼状进样装置及样品测试方法

发明专利有效专利

申请号：
CN201810820887.7
IPC分类号：G01N27/68
申请日期：
2018-07-24
申请人：
中国科学院上海硅酸盐研究所

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专利名称	一种用于辉光放电质谱分析的笼状进样装置及样品测试方法
申请号	CN201810820887.7	申请日期	2018-07-24
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日	2020-02-04	公开/公告号	CN110749645A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01N27/68 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01N （除免疫测定法以外包括酶或微生物的测量或试验入C12M，C12Q） G01N27/00 用电、电化学或磁的方法测试或分析材料（G01N 3/00至G01N 25/00优先；电或磁变量的测量或试验，材料的电磁性能的测试或试验入G01R） G01N27/62 通过测试气体的电离，通过测试放电，例如阴极发射 G01N27/68 利用放电使气体电离	IPC分类号	G;0;1;N;2;7;/;6;8查看分类表>
申请人	中国科学院上海硅酸盐研究所	申请人地址	上海市长宁区定西路1295号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	中国科学院上海硅酸盐研究所	当前权利人	中国科学院上海硅酸盐研究所
发明人	董疆丽;卓尚军;钱荣;盛成
代理机构	上海瀚桥专利代理事务所（普通合伙）	代理人	曹芳玲;张力允

摘要

本发明提供一种用于辉光放电质谱分析的笼状进样装置及样品测试方法，以解决辉光放电质谱（GD‑MS）法分析不同种类、不同尺寸样品的难题。笼状进样装置包括笼状金属槽和设置于所述笼状金属槽一端的金属把手，所述金属把手用以将该笼状进样装置相对于辉光放电质谱仪进行固定，所述笼状金属槽的另一端具有装样口以装入和取出样品，所述笼状金属槽是在纯度大于99.995％的金属片上打孔加工制备而成，所述笼状金属槽的尺寸小于所述辉光放电质谱仪的辉光放电池尺寸并能安放于所述辉光放电池中，所述笼状金属槽的体积小于所述辉光放电池的容积。

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