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用于衰减校正的方法和装置

发明专利有效专利

申请号：
CN200980121142.0
IPC分类号：G01T1/161
申请日期：
2009-05-29
申请人：
皇家飞利浦电子股份有限公司

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法律信息

引证文献

著录项信息

专利名称	用于衰减校正的方法和装置
申请号	CN200980121142.0	申请日期	2009-05-29
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日	2011-05-11	公开/公告号	CN102057298A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01T1/161 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01T 核辐射或X射线辐射的测量（材料的辐射分析，质谱测定法入G01N 23/00用以测定辐射或粒子的存在、强度、密度或能量的管入H01J 47/00） G01T1/00 X射线辐射、γ射线辐射、微粒子辐射或宇宙线辐射的测量（G01T 3/00，G01T 5/00优先）〔2〕 G01T1/16 辐射强度测量（G01T 1/29优先）〔2〕 G01T1/161 在核医学领域的应用，例如，人体内的计数〔2〕	IPC分类号	G;0;1;T;1;/;1;6;1查看分类表>
申请人	皇家飞利浦电子股份有限公司	申请人地址	荷兰艾恩德霍芬变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	皇家飞利浦电子股份有限公司	当前权利人	皇家飞利浦电子股份有限公司
发明人	J·耶;H·梁;J·韦塞尔;D·索厄德斯-埃梅德;L·邵;J·L·加勒德
代理机构	永新专利商标代理有限公司	代理人	王英;刘炳胜

摘要

提供了一种在PET或SPECT心脏成像中的图像重建衰减校正的方法和装置。通过X射线源的测定体积的衰减成像扫描可以用于生成伽马射线衰减绘图。测定体积的衰减成像扫描可以被随机化，并且可以在被成像对象呼吸时执行。

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