复杂环境全偏振多角度散射模拟及测试系统

发明专利有效专利

申请号：
CN201510053112.8
IPC分类号：G01J4/00;G01J11/00;G01N21/21
申请日期：
2015-02-02
申请人：
长春理工大学

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著录项信息

专利名称	复杂环境全偏振多角度散射模拟及测试系统
申请号	CN201510053112.8	申请日期	2015-02-02
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日	2015-05-06	公开/公告号	CN104596645A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01J4/00 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01J 红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分，偏振、相位或脉冲特性的测量；比色法；辐射高温测定法〔2〕 G01J4/00 测量光的偏振〔2〕	IPC分类号	G;0;1;J;4;/;0;0;;;G;0;1;J;1;1;/;0;0;;;G;0;1;N;2;1;/;2;1查看分类表>
申请人	长春理工大学	申请人地址	吉林省长春市卫星路7186号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	长春理工大学	当前权利人	长春理工大学
发明人	姜会林;战俊彤;张肃;段锦;付强;刘伯愚;张雅琳;高铎瑞;董科研;王超;安岩;江伦
代理机构	长春市吉利专利事务所	代理人	李晓莉

摘要

本发明涉及一种复杂环境全偏振多角度散射模拟及测试系统，属于光电成像探测领域。系统的全偏振光产生装置可产生多个波段的全偏振激光，激光通过多角度传输环境模拟装置上开设的多个特定角度的光学窗口，再进入全偏振光探测装置；计算机系统获取并分析全偏振光产生装置、多角度传输环境模拟装置与全偏振光探测装置的信息。相比现有技术，本发明具有适用范围广、操作方便、效率高、精度高、可重复的特点。

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