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一种激光三差动共焦theta成像检测方法

发明专利无效专利
  • 申请号:
    CN201210107951.X
  • IPC分类号:G01B11/00;G01B11/02;G01B11/24;G01B11/30
  • 申请日期:
    2012-04-13
  • 申请人:
    北京理工大学
著录项信息
专利名称一种激光三差动共焦theta成像检测方法
申请号CN201210107951.X申请日期2012-04-13
法律状态撤回申报国家暂无
公开/公告日2012-08-15公开/公告号CN102636118A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号G01B11/00IPC分类号G;0;1;B;1;1;/;0;0;;;G;0;1;B;1;1;/;0;2;;;G;0;1;B;1;1;/;2;4;;;G;0;1;B;1;1;/;3;0查看分类表>
申请人北京理工大学申请人地址
北京市海淀区中关村南大街5号 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人北京理工大学当前权利人北京理工大学
发明人赵维谦;邱丽荣;刘超
代理机构暂无代理人暂无
摘要
本发明属于表面微细结构测量技术领域,涉及一种激光三差动共焦theta成像检测方法。该方法采用共焦theta显微术的光路布置对被测样品进行扫描测量,将物镜的光瞳面分割为照明光瞳和收集光瞳,入射光束透过照明光瞳后被物镜会聚到被测表面,载有被测样品信息的反射光经过收集光瞳后,被聚光镜会聚于探测面上,在探测焦面上设置三个区域,测得这三个区域的响应并得出探测器响应特性方程,依据曲线在线性区间内的强度大小,或强度为零的位置,重构出被测样品的表面形貌和微观尺度。该方法结构简单,可有效兼顾分辨能力与量程范围,实现物体表面形貌和三维微细结构等的光学高分辨绝对测量。

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