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集成电路电磁发生干扰分析仪

发明专利有效专利
  • 申请号:
    CN202010110501.0
  • IPC分类号:G01R31/28;G01R31/00
  • 申请日期:
    2020-02-24
  • 申请人:
    浙江诺益科技有限公司
著录项信息
专利名称集成电路电磁发生干扰分析仪
申请号CN202010110501.0申请日期2020-02-24
法律状态实质审查申报国家中国
公开/公告日2020-07-10公开/公告号CN111398776A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号G01R31/28IPC分类号G;0;1;R;3;1;/;2;8;;;G;0;1;R;3;1;/;0;0查看分类表>
申请人浙江诺益科技有限公司申请人地址
浙江省杭州市滨江区长河街道滨安路650号1幢十四层1409室 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人浙江诺益科技有限公司当前权利人浙江诺益科技有限公司
发明人郑益民;王逸晨;方旭
代理机构暂无代理人暂无
摘要
本发明公开了集成电路电磁发生干扰分析仪,包括静电放电模块、快速群脉冲模块、射频传导发生模块以及通讯接口,所述静电放电模块的输出端与快速群脉冲模块的输入端连接,所述快速群脉冲模块的输出端与射频传导发生模块的输入端连接,所述射频传导发生模块的输出端与通讯接口的输入端连接,所述射频传导发生模块包括信号发生器、功率放大器、耦合网络以及IC端,所述信号发生器的输出端与功率放大器的输入端连接。该集成电路电磁发生干扰分析仪,通过静电放电模块和快速群脉冲模块的设计,使得本产品能够采用特殊供电方式,其实际输出电压均可从0V开始逐步往上升,可以实现更多的测试等级,满足不同被测品的供电电压。

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