基于双面啮合的齿轮单项误差现场快速测量装置

实用新型专利有效专利

申请号：
CN201320034383.5
IPC分类号：G01B11/00;G01B11/14;G01B11/24
申请日期：
2013-01-22
申请人：
北京工业大学

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著录项信息

专利名称	基于双面啮合的齿轮单项误差现场快速测量装置
申请号	CN201320034383.5	申请日期	2013-01-22
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日		公开/公告号
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01B11/00 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01B 长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量 G01B11/00 以采用光学方法为特征的计量设备（G01B 9/00组中包括的各式仪器本身入G01B 9/00）〔2〕	IPC分类号	G;0;1;B;1;1;/;0;0;;;G;0;1;B;1;1;/;1;4;;;G;0;1;B;1;1;/;2;4查看分类表>
申请人	北京工业大学	申请人地址	北京市朝阳区平乐园100号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	北京工业大学	当前权利人	北京工业大学
发明人	汤洁;石照耀;方志强
代理机构	北京思海天达知识产权代理有限公司	代理人	魏聿珠

摘要

本实用新型涉及一种齿轮双面啮合测量装置，属于精密测试技术及仪器、齿轮测量技术领域。本实用新型是基于齿轮双面啮合测量原理，齿条测头与被测齿轮紧密双面啮合运动。被测齿轮、圆光栅与旋转密珠轴系同轴安装，通过圆光栅精确控制被测齿轮旋转角度，同时记录旋转角度数据。使用微位移传感器测量齿条测头沿被测齿轮径向的位移量，使用长光栅测量测头在被测齿轮切向的位移量。这三路光栅信号通过相关数据处理可以得到被测齿轮的单项偏差。本实用新型可以实现双面啮合测量得到被测齿轮的齿廓偏差和齿距偏差，为齿轮单项偏差的测量开辟了一条新途径。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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