切换控制电路、片上系统芯片、芯片测试系统及方法

发明专利有效专利

申请号：
CN202010256151.9
IPC分类号：G01R31/28;G01R31/317
申请日期：
2020-04-02
申请人：
上海燧原科技有限公司

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著录项信息

专利名称	切换控制电路、片上系统芯片、芯片测试系统及方法
申请号	CN202010256151.9	申请日期	2020-04-02
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日	2020-07-10	公开/公告号	CN111398786A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01R31/28 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01R 测量电变量；测量磁变量（指示谐振电路的正确调谐入H03J 3/12） G01R31/00 电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置（在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L 21/66；线路传输系统的测试入H04B 3/46） G01R31/28 电路的测试，例如用信号故障寻测器（在准备运算或空闲时间期间内测试计算机入G06F11/22）	IPC分类号	G;0;1;R;3;1;/;2;8;;;G;0;1;R;3;1;/;3;1;7查看分类表>
申请人	上海燧原科技有限公司	申请人地址	上海市浦东新区中国(上海)自由贸易试验区盛夏路560号902C-5室变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	上海燧原科技有限公司	当前权利人	上海燧原科技有限公司
发明人	钱海涛;路利刚
代理机构	北京品源专利代理有限公司	代理人	孟金喆

摘要

本发明公开了一种切换控制电路、片上系统芯片、芯片测试系统及方法，切换控制电路包括：第一多路复用单元，其控制端与第一指令寄存器的切换源选择指令输出端相连，其第一输入端与第一指令寄存器的切换指令输出端相连，其第二输入端与切换引脚相连，其输出端与共享测试访问端口的选择控制端相连；复位控制单元，其输入端与第二指令寄存器的切换指令输出端相连，其输出端分别与第一指令寄存器的复位控制端和第二指令寄存器的复位控制端相连。本发明实施例提供的切换控制电路通过切换引脚或者片上指令寄存器等多条切换路径对共享测试访问端口的控制权进行切换，可根据芯片测试阶段调整切换路径，高效灵活，测试成本低，测试可靠性高。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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