一种产品缺陷识别方法、装置、设备及存储介质

发明专利有效专利

申请号：
CN202011566497.5
IPC分类号：G06T7/00;G06T7/90;H04N5/232
申请日期：
2020-12-25
申请人：
浙江伟星实业发展股份有限公司

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著录项信息

专利名称	一种产品缺陷识别方法、装置、设备及存储介质
申请号	CN202011566497.5	申请日期	2020-12-25
法律状态	实质审查	申报国家	中国
公开/公告日	2021-04-20	公开/公告号	CN112686852A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G06T7/00 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G06 计算；推算；计数 G06T 一般的图像数据处理或产生〔6，2006.01〕 G06T7/00 图像分析〔6，2006.01，2017.01〕	IPC分类号	G;0;6;T;7;/;0;0;;;G;0;6;T;7;/;9;0;;;H;0;4;N;5;/;2;3;2查看分类表>
申请人	浙江伟星实业发展股份有限公司	申请人地址	浙江省台州市临海市花园工业区变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	浙江伟星实业发展股份有限公司	当前权利人	浙江伟星实业发展股份有限公司
发明人	章仁马;祝惠君;梁利斌;王德力;杨志;郭沣
代理机构	北京集佳知识产权代理有限公司	代理人	王云晓

摘要

本发明公开了一种产品缺陷识别方法，通过相机拍摄目标产品各个部件的图片，然后通过各个部件所对应的检测模型对图片中各个部件是否有缺陷进行检测，通过针对性的模型对单一部件进行检测，可以保证对各个部件检测时均具有良好的准确性，而通过相机与检测模型相结合，可以实现自动化快速完成对产品是否有缺陷进行检测，且具有较高的成功率。本发明还提供了一种产品缺陷识别装置、一种产品缺陷识别设备以及一种计算机可读存储介质，同样具有上述有益效果。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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