高速侧边影像检测装置

实用新型专利无效专利

申请号：
CN201020000454.6
IPC分类号：G01N21/892
申请日期：
2010-01-15
申请人：
薛伯承;朱文庆

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法律信息

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著录项信息

专利名称	高速侧边影像检测装置
申请号	CN201020000454.6	申请日期	2010-01-15
法律状态	权利终止	申报国家	中国
公开/公告日		公开/公告号
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01N21/892 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01N （除免疫测定法以外包括酶或微生物的测量或试验入C12M，C12Q） G01N21/00 利用光学手段，即利用红外光、可见光；或紫外光来测试或分析材料（G01N 3/00至G01N 19/00优先） G01N21/84 专用于特殊应用的系统〔3〕 G01N21/88 测试瑕疵、缺陷或污点的存在〔3〕 G01N21/89 在移动的材料中，例如，纸张、织物中（G01N 21/90、G01N 21/91、G01N 21/94优先）〔3，7〕 G01N21/892 特征在于待测的瑕疵、缺陷或物品的特点〔7〕	IPC分类号	G;0;1;N;2;1;/;8;9;2查看分类表>
申请人	薛伯承;朱文庆	申请人地址	中国台湾高雄市左营区立信路211号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	薛伯承,朱文庆	当前权利人	薛伯承,朱文庆
发明人	薛伯承;朱文庆
代理机构	北京中原华和知识产权代理有限责任公司	代理人	寿宁;张华辉

摘要

本实用新型是有关于一种高速侧边影像检测装置，适用于检测封装型电子元件，主要是在于一个能够供封装型电子元件依循滑移的轨道，两侧分别设有一个镜片组件，每一个镜片组件分别定义有一影像反射路径，各该影像反射路径定义有一个起始位置及一个终止位置，且每一个镜片组件均具有多数位于各影像反射路径上的镜片，位于起始位置处的镜片并外露于该轨道内侧，而能将往返通过轨道的封装型电子元件侧边影像通过其余镜片的接续反射，而进一步传递给影像撷取元件，影像撷取元件所撷取的影像信号并传递至该电脑系统，以快速完成半导体封装元件的检测作业，且检测精确度高。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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