多光束激光外差二次谐波测量杨氏模量的方法

发明专利无效专利

申请号：
CN201110145176.2
IPC分类号：G01N3/08
申请日期：
2011-05-31
申请人：
哈尔滨工业大学

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著录项信息

专利名称	多光束激光外差二次谐波测量杨氏模量的方法
申请号	CN201110145176.2	申请日期	2011-05-31
法律状态	权利终止	申报国家	中国
公开/公告日	2011-10-19	公开/公告号	CN102221502A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01N3/08 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01N （除免疫测定法以外包括酶或微生物的测量或试验入C12M，C12Q） G01N3/00 用机械应力测试固体材料的强度特性 G01N3/08 施加稳定的张力或压力（G01N 3/28优先）	IPC分类号	G;0;1;N;3;/;0;8查看分类表>
申请人	哈尔滨工业大学	申请人地址	黑龙江省哈尔滨市南岗区西大直街92号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	哈尔滨工业大学	当前权利人	哈尔滨工业大学
发明人	李彦超;王春晖;高龙;曲杨;张峰
代理机构	哈尔滨市松花江专利商标事务所	代理人	张宏威

摘要

多光束激光外差二次谐波测量杨氏模量的方法，涉及一种测量杨氏模量的方法。它解决了现有采用多光束激光外差测量杨氏模量的方法存在的由于激光外差拍频信号采集效果差、信号处理速度慢导致的测量精度较低的问题。它通过在光路中引入振镜，根据多普勒效应使不同时刻入射的光信号附加了一个光频，因此经过平面反射镜k次反射的光和k+2次反射光透过薄玻璃板后在满足干涉的条件下，产生多光束外差二次谐波信号，从而将待测信息成功地调制在中频外差二次谐波信号的频率差中。在测量样品杨氏模量的过程中，在频域得到了包含金属长度变化量的频率值，经信号解调后得到样品长度随砝码质量的变化量，计算可以获得样品的杨氏模量。本发明适用于测量杨氏模量。

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