钼化合物/钼合金粉末掺杂元素分布微观均匀性检测方法

发明专利无效专利

申请号：
CN201310102245.0
IPC分类号：G01N23/22;G01N1/28;G01N1/38
申请日期：
2013-03-27
申请人：
金堆城钼业股份有限公司

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著录项信息

专利名称	钼化合物/钼合金粉末掺杂元素分布微观均匀性检测方法
申请号	CN201310102245.0	申请日期	2013-03-27
法律状态	驳回	申报国家	中国
公开/公告日	2013-07-10	公开/公告号	CN103196933A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01N23/22 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01N （除免疫测定法以外包括酶或微生物的测量或试验入C12M，C12Q） G01N23/206 （转入G01N 23/205） G01N23/22 通过测量来自材料的二次发射〔1，2，2006.01，2018.01〕	IPC分类号	G;0;1;N;2;3;/;2;2;;;G;0;1;N;1;/;2;8;;;G;0;1;N;1;/;3;8查看分类表>
申请人	金堆城钼业股份有限公司	申请人地址	陕西省西安市高新区锦业一路88号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	金堆城钼业股份有限公司	当前权利人	金堆城钼业股份有限公司
发明人	冯鹏发;杨秦莉;赵虎;刘仁智;付静波
代理机构	西安弘理专利事务所	代理人	罗笛

摘要

本发明公开了一种钼化合物/钼合金粉末掺杂元素分布微观均匀性的检测方法，将待检测的钼化合物或钼合金粉末进行压片后烘干，再经过冷却后真空包装，最后在扫描电镜上进行能量弥散X射线光谱图检测并分析掺杂元素分布的微观均匀性。本发明钼化合物/钼合金粉末掺杂元素分布微观均匀性的检测方法，通过将待检测的钼化合物/钼合金粉末进行压片、烘干和真空包装后，采用扫描电镜对其进行能量弥散X射线分布光谱图检测进而分析掺杂元素分布的微观均匀性，能够快速、及时、准确地分析钼化合物粉末/钼合金粉末中掺杂元素分布的微观均匀性。

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