一种测试接触器触头参数的测试头

实用新型专利无效专利

申请号：
CN201120137736.5
IPC分类号：G01R31/327;G01B7/02;G01B7/14
申请日期：
2011-05-03
申请人：
厦门精合电气自动化有限公司

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法律信息

引证文献

著录项信息

专利名称	一种测试接触器触头参数的测试头
申请号	CN201120137736.5	申请日期	2011-05-03
法律状态	权利终止	申报国家	中国
公开/公告日		公开/公告号
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01R31/327 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01R 测量电变量；测量磁变量（指示谐振电路的正确调谐入H03J 3/12） G01R31/00 电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置（在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L 21/66；线路传输系统的测试入H04B 3/46） G01R31/327 电路断续器、开关或电路断路器的测试〔6〕	IPC分类号	G;0;1;R;3;1;/;3;2;7;;;G;0;1;B;7;/;0;2;;;G;0;1;B;7;/;1;4查看分类表>
申请人	厦门精合电气自动化有限公司	申请人地址	福建省厦门市湖里华荣路46号精合大厦变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	厦门精合电气自动化有限公司	当前权利人	厦门精合电气自动化有限公司
发明人	施晓红;胡熙鹏;雷鸣
代理机构	厦门市首创君合专利事务所有限公司	代理人	连耀忠

摘要

本实用新型公开了一种测试接触器触头参数的测试头。测试头包括测试固定台，所述测试固定台两端分别设有第一凸起和第二凸起；测针，所述测针从所述第一凸起穿出；导电柱，所述导电柱固定于所述第二凸起，所述测针与所述导电柱之间有间隙；弹簧，所述测针穿过弹簧的轴心。采用上述技术方案，取得的有益效果是：接触器开距与超程的测试过程完全自动化，不需要考虑人为的因素导致测试的数据不准确。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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