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利用高密度金属布线的技术中的高性能单元设计

发明专利有效专利
  • 申请号:
    CN201880059890.X
  • IPC分类号:H01L27/02;H01L23/528
  • 申请日期:
    2018-08-27
  • 申请人:
    高通股份有限公司
著录项信息
专利名称利用高密度金属布线的技术中的高性能单元设计
申请号CN201880059890.X申请日期2018-08-27
法律状态实质审查申报国家暂无
公开/公告日2020-05-01公开/公告号CN111095554A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号H01L27/02IPC分类号H;0;1;L;2;7;/;0;2;;;H;0;1;L;2;3;/;5;2;8查看分类表>
申请人高通股份有限公司申请人地址
美国加利福尼亚州 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人高通股份有限公司当前权利人高通股份有限公司
发明人R·希里玛斯;H·利姆;F·旺;X·陈;V·宝娜帕里
代理机构北京市金杜律师事务所代理人崔卿虎
摘要
在某些方面,一种半导体管芯包括第一掺杂区、第二掺杂区和由第一中间线(MOL)层形成的互连件,其中互连件将第一掺杂区电耦合到第二掺杂区。半导体管芯还包括由第一互连金属层形成的第一金属线和将互连件电耦合到第一金属线的第一通孔。

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