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离子注入机台中离子源头的结构

发明专利有效专利
  • 申请号:
    CN201911353080.8
  • IPC分类号:H01J37/317;H01J37/08
  • 申请日期:
    2019-12-25
  • 申请人:
    上海华力集成电路制造有限公司
著录项信息
专利名称离子注入机台中离子源头的结构
申请号CN201911353080.8申请日期2019-12-25
法律状态实质审查申报国家中国
公开/公告日2020-04-17公开/公告号CN111029235A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号H01J37/317IPC分类号H;0;1;J;3;7;/;3;1;7;;;H;0;1;J;3;7;/;0;8查看分类表>
申请人上海华力集成电路制造有限公司申请人地址
上海市浦东新区自由贸易试验区康桥东路298号1幢1060室 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人上海华力集成电路制造有限公司当前权利人上海华力集成电路制造有限公司
发明人谢石谦;丁杰;何春雷
代理机构上海浦一知识产权代理有限公司代理人栾美洁
摘要
本发明公开了一种离子注入机台中离子源头的结构,包括起弧室、反射极和纯钨小挡板,所述起弧室包括石墨端板和石墨腔主体,所述石墨端板形成有凹槽,所述石墨腔主体压装在所述纯钨小挡板和所述石墨端板上,所述石墨端板和所述纯钨小挡板的中心处均形成有通孔,所述纯钨小挡板和所述石墨端板之间设有第一绝缘挡板,所述纯钨小挡板和所述石墨腔主体靠近所述石墨端板的端部之间设有第二绝缘挡板,所述第一绝缘挡板和所述第二绝缘挡板的中心处均形成有供反射极的端子部穿过的通孔。本发明可以有效解决peeling发生时反射极与纯钨小挡板导通而导致反射极与起弧室之间导通的问题,从而延长离子源头的使用寿命以及机台的维修周期。

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