一种副反射面旋转的低剖面可扫描平面反射阵天线系统及扫描方法

发明专利有效专利

申请号：
CN202010209410.2
IPC分类号：H01Q1/28;H01Q1/38;H01Q1/48;H01Q1/50;H01Q3/20;H01Q13/02;H01Q15/14;H01Q19/185
申请日期：
2020-03-23
申请人：
成都华芯天微科技有限公司

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著录项信息

专利名称	一种副反射面旋转的低剖面可扫描平面反射阵天线系统及扫描方法
申请号	CN202010209410.2	申请日期	2020-03-23
法律状态	实质审查	申报国家	中国
公开/公告日	2020-05-29	公开/公告号	CN111211404A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	H01Q1/28 ? IPC结构图谱： H 电学 H9 电学 H01 基本电气元件 H01Q 天线（微波加热用辐射器或天线入H05B6/72） H01Q1/00 天线零部件或与天线结合的装置（改变方向图形的指向性的装置入H01Q3/00）〔1，2006.01〕 H01Q1/27 适合于可移动物体上或其内使用的（H01Q 1/08，H01Q 1/12，H01Q 1/18优先）〔3〕 H01Q1/28 适合于飞机、导弹、卫星或气球上或其内使用的〔3〕	IPC分类号	H;0;1;Q;1;/;2;8;;;H;0;1;Q;1;/;3;8;;;H;0;1;Q;1;/;4;8;;;H;0;1;Q;1;/;5;0;;;H;0;1;Q;3;/;2;0;;;H;0;1;Q;1;3;/;0;2;;;H;0;1;Q;1;5;/;1;4;;;H;0;1;Q;1;9;/;1;8;5查看分类表>
申请人	成都华芯天微科技有限公司	申请人地址	四川省成都市中国（四川）自由贸易试验区成都高新区天府五街200号1号楼3层A、B区变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	成都华芯天微科技有限公司	当前权利人	成都华芯天微科技有限公司
发明人	汪渊;谢照川;李伟;尹治强;李超;邓方科
代理机构	成都华风专利事务所（普通合伙）	代理人	张巨箭

摘要

本发明公开了一种副反射面旋转的低剖面可扫描平面反射阵天线系统及扫描方法，包括平面反射阵天线模块(12)、副反射面(9)、馈源(8)和电机系统，平面反射阵天线模块(12)与电机系统连接，电机系统与副反射面(9)连接，馈源(8)安装在平面反射阵天线模块(12)的正中心，副反射面(9)位于馈源(8)正上方，平面反射阵天线模块(12)包括从上到下依次连接的天线层(5)、控制层(6)和电源层(7)，馈源(8)发出电磁波给副反射面(9)，电机系统控制副反射面(9)的旋转，该系统能够实现离轴角±α，旋转角360°的波束扫描，该系统具有更低的剖面、更高的增益，占用空间小，且系统高度集成化。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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该专利没有被任何外部专利所引用！

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