显示珠光体状态的GCr15SiMn钢原始奥氏体晶粒的方法

发明专利有效专利

申请号：
CN201310482098.4
IPC分类号：G01N1/32;G01N1/44
申请日期：
2013-10-15
申请人：
北京科技大学

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专利名称	显示珠光体状态的GCr15SiMn钢原始奥氏体晶粒的方法
申请号	CN201310482098.4	申请日期	2013-10-15
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日	2014-01-15	公开/公告号	CN103512792A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01N1/32 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01N （除免疫测定法以外包括酶或微生物的测量或试验入C12M，C12Q） G01N1/00 取样；制备测试用的样品（用于自动分析的材料处理入G01N 35/00） G01N1/28 测试用样品的制备（将样品安装在显微镜载片上入G02B 21/34；电子显微镜中支承被分析的物品或材料的装置入H01J 37/20） G01N1/32 抛光；腐蚀	IPC分类号	G;0;1;N;1;/;3;2;;;G;0;1;N;1;/;4;4查看分类表>
申请人	北京科技大学	申请人地址	北京市海淀区学院路30号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	北京科技大学	当前权利人	北京科技大学
发明人	张丹;刘雅政;周乐育;韩强;霍朝霞
代理机构	北京金智普华知识产权代理有限公司	代理人	皋吉甫

摘要

本发明涉及属于金相制备技术领域，提供一种显示珠光体状态的GCr15SiMn钢原始奥氏体晶粒的方法，所述处理方法包括以下步骤：将材料加工成规则形状的试样，然后对试样进行热处理，即将试样置入升至预定温度的加热炉中，保温预定时间后进行淬火处理，待试样完全冷却后取出来；对热处理后的试样进行粗磨；对粗磨后的试样进行细磨和抛光；采用腐蚀液对所述抛光试样进行反复的浸蚀和抛光，待奥氏体晶粒逐渐清晰之后进行清洗，吹干；在显微镜下观察，就可以观察到较为清晰的原始奥氏体组织。

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