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互补场效应晶体管中的外延结构

发明专利有效专利
  • 申请号:
    CN201810960672.5
  • IPC分类号:H01L27/092;H01L27/12;H01L21/8238
  • 申请日期:
    2018-08-22
  • 申请人:
    格芯公司
著录项信息
专利名称互补场效应晶体管中的外延结构
申请号CN201810960672.5申请日期2018-08-22
法律状态暂无申报国家中国
公开/公告日2019-05-28公开/公告号CN109817618A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号H01L27/092IPC分类号H;0;1;L;2;7;/;0;9;2;;;H;0;1;L;2;7;/;1;2;;;H;0;1;L;2;1;/;8;2;3;8查看分类表>
申请人格芯公司申请人地址
美国加利福尼亚州 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人格芯(美国)集成电路科技有限公司当前权利人格芯(美国)集成电路科技有限公司
发明人朱利安·弗罗吉尔;谢瑞龙;史帝文·本利;帕尼特·H·苏瓦纳
代理机构北京戈程知识产权代理有限公司代理人程伟;王锦阳
摘要
本发明涉及互补场效应晶体管中的外延结构,揭示形成集成电路结构的方法,该集成电路结构包括延伸至衬底中的隔离元件,以及接触该隔离元件的第一晶体管的源/漏区。该隔离元件自该衬底延伸至该第一晶体管的该源/漏区中。隔离层接触该第一晶体管的该源/漏区,且第二晶体管的源/漏区也接触该隔离层。因此,该隔离层位于该第一晶体管的该源/漏区与该第二晶体管的该源/漏区之间。该第一晶体管的沟道区接触并延伸于该第一晶体管的该源/漏区之间,且该第二晶体管的沟道区接触并延伸于该第二晶体管的该源/漏区之间。栅极导体围绕该第一晶体管的该沟道区及该第二晶体管的该沟道区的侧面。

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