具有存储器上的加速以及用于FPGA块内自动模式生成的加速的测试器

发明专利有效专利

申请号：
CN201380072154.5
IPC分类号：G01R31/319;G01R31/28
申请日期：
2013-02-28
申请人：
爱德万测试公司

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法律信息

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著录项信息

专利名称	具有存储器上的加速以及用于FPGA块内自动模式生成的加速的测试器
申请号	CN201380072154.5	申请日期	2013-02-28
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日	2016-01-06	公开/公告号	CN105229481A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01R31/319 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01R 测量电变量；测量磁变量（指示谐振电路的正确调谐入H03J 3/12） G01R31/00 电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置（在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L 21/66；线路传输系统的测试入H04B 3/46） G01R31/28 电路的测试，例如用信号故障寻测器（在准备运算或空闲时间期间内测试计算机入G06F11/22） G01R31/317 数字电路的测试〔6〕 G01R31/3181 性能测试（G01R 31/3177优先）〔6〕 G01R31/319 测试器硬件，即输出处理电路〔6〕	IPC分类号	G;0;1;R;3;1;/;3;1;9;;;G;0;1;R;3;1;/;2;8查看分类表>
申请人	爱德万测试公司	申请人地址	日本东京都变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	爱德万测试公司	当前权利人	爱德万测试公司
发明人	约翰·费迪尼;安德鲁·尼米克
代理机构	北京东方亿思知识产权代理有限责任公司	代理人	李晓冬

摘要

提供了能执行半导体器件的高速测试的自动测试设备。该自动测试设备包括测试器处理器的计算机系统，其中测试器处理器通信地耦接到多个FPGA组件。多个FPGA组件中的每个耦接到存储器模块并包括：可操作来从测试器处理器接收命令和数据的上游端口；可操作来与多个受测设备DUT中的相应DUT通信的下游端口；以及多个硬件加速器电路，其中每个硬件加速器电路被配置为与多个DUT中的一个DUT通信。每个硬件加速器电路包括：模式生成器电路，可配置为自动生成要被写入多个DUT中的一个DUT的测试模式数据；以及比较器电路，被配置为将从所述多个DUT中的所述一个DUT读取的数据、与写入到所述多个DUT中的所述一个DUT的测试模式数据进行比较。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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