自动测试系统及测试方法

发明专利无效专利

申请号：
CN201110110536.5
IPC分类号：G01R31/44
申请日期：
2011-04-29
申请人：
鸿富锦精密工业（深圳）有限公司;鸿海精密工业股份有限公司

基础信息

权利要求

说明书

PDF全文

法律信息

引证文献

著录项信息

专利名称	自动测试系统及测试方法
申请号	CN201110110536.5	申请日期	2011-04-29
法律状态	撤回	申报国家	中国
公开/公告日	2012-10-31	公开/公告号	CN102759719A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01R31/44 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01R 测量电变量；测量磁变量（指示谐振电路的正确调谐入H03J 3/12） G01R31/38 （转入H01T 13/60） G01R31/44 采用核磁共振〔NMR〕（G01R33/24，G01R33/62优先）〔5〕	IPC分类号	G;0;1;R;3;1;/;4;4查看分类表>
申请人	鸿富锦精密工业（深圳）有限公司;鸿海精密工业股份有限公司	申请人地址	广东省深圳市宝安区龙华镇油松第十工业区东环二路2号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	鸿富锦精密工业（深圳）有限公司,鸿海精密工业股份有限公司	当前权利人	鸿富锦精密工业（深圳）有限公司,鸿海精密工业股份有限公司
发明人	林乐;陈军民
代理机构	暂无	代理人	暂无

摘要

一种自动测试系统通过光敏传感器来感测被启动的LED是否发光，并在感测到所述LED发光后通过控制发光的LED熄灭，当检测到发光的LED被熄灭，表明该LED是可以正常工作，若被启动的LED未发光或发光的LED未被熄灭，则表明该LED不能正常工作，从而完成了对一个LED的测试，所述自动测试系统还对存储的ID值加一，并判断此时存储的ID是否大于LED的数量，若大于，则表示此时所有的LED均被测试完毕，整个测试过程完成；若不大于，则表示此时尚有LED未被测试，则继续对下一个LED进行测试，从而使所述自动测试系统实现了自动地依次对所述主板上的LED进行测试。本发明还提供了一种自动测试方法。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有被任何外部专利所引用！

我浏览过的专利

专利服务由北京酷爱智慧知识产权代理公司提供