单光子发射断层成像的处理方法及系统

发明专利有效专利

申请号：
CN201510209913.9
IPC分类号：A61B6/03
申请日期：
2015-04-29
申请人：
北京永新医疗设备有限公司

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专利名称	单光子发射断层成像的处理方法及系统
申请号	CN201510209913.9	申请日期	2015-04-29
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日	2015-07-22	公开/公告号	CN104783829A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	A61B6/03 ? IPC结构图谱： A 人类生活必需 A6 保健；救生；娱乐 A61 医学或兽医学；卫生学 A61B 诊断；外科；鉴定（分析生物材料入G01N，如G01N33/48） A61B6/00 用于放射诊断的仪器，如与放射治疗设备相结合的（应用在核医疗学方面的测量辐射强度的仪器，如在体内计数的入G01T1/161；用于X光摄影的设备入G03B42/02） A61B6/02 依次在不同平面中诊断的仪器；立体放射诊断的 A61B6/03 用电子计算机处理的层析X射线摄影机（回波层析X射线摄影法入A61B8/14）〔4〕	IPC分类号	A;6;1;B;6;/;0;3查看分类表>
申请人	北京永新医疗设备有限公司	申请人地址	北京市通州区中关村科技园区通州园金桥科技产业基地环科中路17号17A 变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	北京永新医疗设备有限公司	当前权利人	北京永新医疗设备有限公司
发明人	刘亚强;鲍天威;张弥;李永亮;陈思;龚光华;王石;刘迈
代理机构	北京清亦华知识产权代理事务所（普通合伙）	代理人	张大威

摘要

本发明提出一种单光子发射断层成像的处理方法及系统，该方法包括：数字化采样波形信号；输入预设的能窗上限、能窗下限以及基线偏置；根据所述基线偏置对数字化波形信号剔除数字基线；从数字化波形信号中提取过阈信号；对过阈信号进行加和，实现能量的数字积分；根据能窗上限、能窗下限对经过积分处理后的过阈信号进行整合，得到完整的过阈事件。本发明的方法具有速度快，并行处理能力强，易于升级等特点，适用于数字化人体单光子发射断层成像设备中的电子学设备。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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