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印刷电路板及检测印刷电路板层间位置偏移的方法

发明专利有效专利
  • 申请号:
    CN202110034209.X
  • IPC分类号:H05K1/02;H05K3/46
  • 申请日期:
    2021-01-12
  • 申请人:
    日月光半导体(上海)有限公司
著录项信息
专利名称印刷电路板及检测印刷电路板层间位置偏移的方法
申请号CN202110034209.X申请日期2021-01-12
法律状态实质审查申报国家暂无
公开/公告日2021-05-11公开/公告号CN112788833A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号H05K1/02IPC分类号H;0;5;K;1;/;0;2;;;H;0;5;K;3;/;4;6查看分类表>
申请人日月光半导体(上海)有限公司申请人地址
上海市浦东新区张江高科技园区金科路2300号 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人日月光半导体(上海)有限公司当前权利人日月光半导体(上海)有限公司
发明人陆威;唐明茹;林佳德
代理机构北京律盟知识产权代理有限责任公司代理人林斯凯
摘要
本申请实施例是关于印刷电路板及检测印刷电路板层间位置偏移的方法。根据本申请的一实施例提供的印刷电路板包括:核心层、第一金属层、第二金属层、第三金属层和第四金属层。第一金属层具有第一图形标记,第二金属层具有第二图形标记。第一和第二图形标记构成层偏检测区,第一图形标记与第二图形标记在第一表面的投影平面中沿印刷电路板的长度方向上的间距等于第一预设偏移值减去第一金属层和第二金属层的咬蚀量,第一预设偏移值是允许第一金属层和第二金属层之间出现层间偏移的第一值。本申请的实施例提供的检测印刷电路板层间位置偏移的方法可以简便的方法精准且高效地进行多层印刷电路板的层间检测。

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