一种结构面轮廓线采样精度的确定方法

发明专利有效专利

申请号：
CN201610998579.4
IPC分类号：G01B11/24
申请日期：
2016-11-14
申请人：
绍兴文理学院

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著录项信息

专利名称	一种结构面轮廓线采样精度的确定方法
申请号	CN201610998579.4	申请日期	2016-11-14
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日	2017-02-22	公开/公告号	CN106441155A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01B11/24 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01B 长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量 G01B11/00 以采用光学方法为特征的计量设备（G01B 9/00组中包括的各式仪器本身入G01B 9/00）〔2〕 G01B11/24 用于计量轮廓或曲率	IPC分类号	G;0;1;B;1;1;/;2;4查看分类表>
申请人	绍兴文理学院	申请人地址	浙江省绍兴市越城区环城西路508号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	绍兴文理学院	当前权利人	绍兴文理学院
发明人	杜时贵;雍睿;杨小聪;夏才初;刘文连;代永新;马成荣;黄曼;叶军;李国平
代理机构	杭州斯可睿专利事务所有限公司	代理人	王利强

摘要

一种结构面轮廓线采样精度的确定方法，包括以下步骤：(1)提取结构面轮廓线上各点的坐标数据；(2)采用傅里叶级数对结构面轮廓线上各点坐标进行逼近；(3)计算不同阶次条件下傅里叶级数的近似拟合值；(4)计算结构面轮廓线上各点到水平线的距离的均方差；(5)将均方差乘以拟合系数作为傅里叶级数逼近的阈值；(6)计算不同阶次条件下相同水平坐标条件下傅里叶级数的近似拟合值与实测结构面轮廓线坐标的均方差；(7)当阶次n增大到临界值时，En小于傅里叶级数逼近的阈值，阶次n为最低阶次；(8)依据傅里叶级数的频率表达式和求解得到的最低阶次，得到采样间距；(9)求解最小采样精度。本发明有效确定结构面轮廓线采样精度。

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