光学询问系统和传感器系统

发明专利有效专利

申请号：
CN200380106312.0
IPC分类号：H04B10/08;G01K11/32;G01D5/353
申请日期：
2003-12-15
申请人：
阿斯顿光学技术有限公司

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法律信息

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著录项信息

专利名称	光学询问系统和传感器系统
申请号	CN200380106312.0	申请日期	2003-12-15
法律状态	暂无	申报国家	中国
公开/公告日	2006-01-25	公开/公告号	CN1726664
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	H04B10/08 ? IPC结构图谱： H 电学 H9 电学 H04 电通信技术 H04B 传输〔4〕 H04B10/08 （转到H04B10/07）	IPC分类号	H;0;4;B;1;0;/;0;8;;;G;0;1;K;1;1;/;3;2;;;G;0;1;D;5;/;3;5;3查看分类表>
申请人	阿斯顿光学技术有限公司	申请人地址	英国南安普敦变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	穆格银森赛斯有限公司,银森赛斯有限公司	当前权利人	穆格银森赛斯有限公司,银森赛斯有限公司
发明人	罗娜·安妮·欧瓦尔;葛莱恩·大卫·洛伊德
代理机构	北京众合诚成知识产权代理有限公司	代理人	李光松

摘要

一种光学询问系统(10)包括以半导体光学放大器(SOA)(14)的光学放大和选通装置和光源(12，14)。驱动装置(22)(由可变频率振荡器驱动的电脉冲产生器)设置以产生施加到SOA(14)的电驱动脉冲(见插图(a))，从而使SOA(14)接通和断开。光源包括超发光二极管(SLD)(12)，从该光源输出的CW通过SOA(14)选通为光学脉冲。SOA(14)光学耦合到包含被询问的反射光学元件(光栅G)阵列的波导(16)。询问系统进一步包括光学耦合到SOA(14)的光学检测装置(18)，其可操作为计算由SOA(14)传输的返回光学脉冲的波长。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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