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锰氧化物外延薄膜及其制备方法与应用

发明专利无效专利
  • 申请号:
    CN200910238148.8
  • IPC分类号:--
  • 申请日期:
    2009-11-16
  • 申请人:
    中国科学技术大学
著录项信息
专利名称锰氧化物外延薄膜及其制备方法与应用
申请号CN200910238148.8申请日期2009-11-16
法律状态驳回申报国家中国
公开/公告日2010-11-03公开/公告号CN101876054A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号暂无IPC分类号暂无查看分类表>
申请人中国科学技术大学申请人地址
安徽省合肥市金寨路96号中国科技大学科技处 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人中国科学技术大学当前权利人中国科学技术大学
发明人张福恒;谌平凡;黄振;吴文彬
代理机构北京纪凯知识产权代理有限公司代理人关畅
摘要
本发明公开了一种锰氧化物外延薄膜及其制备方法与应用。该薄膜,是按照包括如下步骤的方法制备得到的:利用脉冲激光沉积的方法,在NdGaO3(110)单晶基片上外延生长(La1-XPrX)0.67Ca0.33MnO3薄膜,沉积结束后原位退火降至室温,再于氧气气氛中进行退火,得到所述外延薄膜。本发明提供的锰氧化物外延薄膜,在Pr掺杂及其与(110)取向的NdGaO3单晶基片应力的共同作用下,显著提高了薄膜的电阻的温度系数TCR,最高可达80%。该薄膜在红外探测器领域具有广阔的应用前景,能够大大提高红外探测器的灵敏度。

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