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基于电极位移的电阻点焊质量控制装置与方法

发明专利无效专利
  • 申请号:
    CN200810040910.7
  • IPC分类号:B23K11/24;B23K11/11
  • 申请日期:
    2008-07-24
  • 申请人:
    上海交通大学
著录项信息
专利名称基于电极位移的电阻点焊质量控制装置与方法
申请号CN200810040910.7申请日期2008-07-24
法律状态权利终止申报国家中国
公开/公告日2008-12-17公开/公告号CN101323047
优先权暂无优先权号暂无
主分类号B23K11/24IPC分类号B;2;3;K;1;1;/;2;4;;;B;2;3;K;1;1;/;1;1查看分类表>
申请人上海交通大学申请人地址
上海市闵行区东川路800号 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人上海交通大学当前权利人上海交通大学
发明人孟国香;王先锋;冯正进;谢文华;叶骞
代理机构上海交达专利事务所代理人王锡麟;王桂忠
摘要
本发明公开一种焊接技术领域的基于电极位移的电阻点焊质量控制装置与方法。在初级回路的输入端加上380V的交流电源,在反并联晶闸管的可控触发下,交流电压经变压器降压将焊接能量转换到次级回路;在次级回路里获得大电流对工件进行焊接,工件的点焊部位产生热膨胀,其膨胀量由电极位移传感装置进行测量;点焊质量控制器采集电极位移传感装置的位移测量值后进行数值处理,得到飞溅预防判断与熔核尺寸的估测,以此获得焊接电流控制电压信号输给触发驱动电路;触发驱动电路发出触发脉冲给反并联晶闸管来控制晶闸管的导通角,从而有效调节焊接电流与控制焊接质量。本发明能够较好地解决电阻点焊质量的实时监测与控制问题。

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