太赫兹光谱分析方法、系统及设备

发明专利有效专利

申请号：
CN201710708402.0
IPC分类号：G01N21/3586
申请日期：
2017-08-17
申请人：
清华大学

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专利名称	太赫兹光谱分析方法、系统及设备
申请号	CN201710708402.0	申请日期	2017-08-17
法律状态	实质审查	申报国家	中国
公开/公告日	2017-12-26	公开/公告号	CN107515202A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01N21/3586 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01N （除免疫测定法以外包括酶或微生物的测量或试验入C12M，C12Q） G01N21/00 利用光学手段，即利用红外光、可见光；或紫外光来测试或分析材料（G01N 3/00至G01N 19/00优先） G01N21/17 入射光根据所测试的材料性质而改变的系统（其中所测试的材料因受到光学激发而引起入射光波长改变的入G01N 21/63）〔3〕 G01N21/25 颜色；光谱性质，即比较材料对两个或多个不同波长或波段的光的影响〔3〕 G01N21/31 测试材料在特定元素或分子的特征波长下的相对效应，例如原子吸收光谱术〔3〕 G01N21/35 利用红外光（G01N 21/39优先）〔3，2014.01〕 G01N21/3581 利用远红外光；利用太赫兹辐射〔2014.01〕 G01N21/3586 通过太赫兹时域光谱学〔THz-TDS〕〔2014.01〕	IPC分类号	G;0;1;N;2;1;/;3;5;8;6查看分类表>
申请人	清华大学	申请人地址	北京市海淀区清华园1号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	清华大学	当前权利人	清华大学
发明人	郑小平;苏云鹏;邓晓娇
代理机构	北京华进京联知识产权代理有限公司	代理人	孙岩

摘要

本发明涉及一种太赫兹光谱分析方法，包括：采集参考信号与样品信号；将所述参考信号与样品信号分解为多个本征模态函数分量；获取与预设频率范围匹配的本征模态函数分量；对与预设频率范围匹配的本征模态函数分量进行傅里叶变换，得到所述样品信号的吸收谱；提取所述吸收谱中的吸收峰，将所述吸收峰与样品数据库对比，获得样品的种类与含量。本发明还涉及一种太赫兹光谱分析系统及设备。本发明提供的太赫兹光谱分析方法、系统及设备，能够有效识别待测样品。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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