一种金属圆柱缺陷参数检测方法及系统

发明专利有效专利

申请号：
CN202110346950.X
IPC分类号：G01N27/90
申请日期：
2021-03-31
申请人：
北京理工大学

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著录项信息

专利名称	一种金属圆柱缺陷参数检测方法及系统
申请号	CN202110346950.X	申请日期	2021-03-31
法律状态	实质审查	申报国家	暂无
公开/公告日	2021-07-06	公开/公告号	CN113075289A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01N27/90 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01N （除免疫测定法以外包括酶或微生物的测量或试验入C12M，C12Q） G01N27/00 用电、电化学或磁的方法测试或分析材料（G01N 3/00至G01N 25/00优先；电或磁变量的测量或试验，材料的电磁性能的测试或试验入G01R） G01N27/72 通过测试磁变量 G01N27/82 用于测试缺陷的存在 G01N27/90 利用涡流〔3〕	IPC分类号	G;0;1;N;2;7;/;9;0查看分类表>
申请人	北京理工大学	申请人地址	北京市海淀区中关村南大街5号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	北京理工大学	当前权利人	北京理工大学
发明人	毛雪飞;郭金路;陈振;刘向东
代理机构	北京高沃律师事务所	代理人	韩雪梅

摘要

本发明公开了一种金属圆柱缺陷参数检测方法及系统，涉及工业金属管材缺陷检测领域，包括确定待测金属圆柱对应的阻抗增量扫描曲线；对阻抗增量扫描曲线进行处理以获取阻抗增量扫描曲线对应的的特征向量；将特征向量输入到金属圆柱缺陷参数检测模型中以确定金属圆柱的缺陷参数；缺陷参数包括缺陷宽度、缺陷深度以及缺陷形状；其中，金属圆柱缺陷参数检测模型是根据特征向量数据集和神经网络确定的。应用本发明能够达到无损快速高精度检测的目的。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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