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配线板,半导体器件以及制造半导体器件的方法

发明专利无效专利
  • 申请号:
    CN200610132162.6
  • IPC分类号:H01L23/498;H01L25/00;H01L23/488;H01L21/50;H01L21/60
  • 申请日期:
    2006-10-12
  • 申请人:
    日本电气株式会社;恩益禧电子股份有限公司
著录项信息
专利名称配线板,半导体器件以及制造半导体器件的方法
申请号CN200610132162.6申请日期2006-10-12
法律状态权利终止申报国家中国
公开/公告日2007-04-18公开/公告号CN1949499
优先权暂无优先权号暂无
主分类号H01L23/498IPC分类号H;0;1;L;2;3;/;4;9;8;;;H;0;1;L;2;5;/;0;0;;;H;0;1;L;2;3;/;4;8;8;;;H;0;1;L;2;1;/;5;0;;;H;0;1;L;2;1;/;6;0查看分类表>
申请人日本电气株式会社;恩益禧电子股份有限公司申请人地址
日本东京都 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人瑞萨电子株式会社当前权利人瑞萨电子株式会社
发明人山道新太郎;菊池克;栗田洋一郎;副岛康志
代理机构中科专利商标代理有限责任公司代理人朱进桂
摘要
一种半导体器件包括:平板状的配线板;第一LSI,设置在配线板的一个表面上;密封树脂,用于覆盖第一半导体器件的一个表面和侧面;以及第二LSI,设置在配线板的另一表面上。配线板具有:导体配线,作为配线层;绝缘树脂,作为用于支持配线层的支持层;以及导体通孔,贯通配线层和支持层。在设置于从上垂直俯视时、半导体元件的外围边缘横穿焊接区的内部的所在位置处的焊接区,与焊接区所在的相同平面上形成的配线层之间的连接点,朝向配线板的一侧不均匀地分布因此,可以针对非常微细的配线进行连接,可以非常密集地连接多个半导体元件。

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