射频线路测试系统及方法

发明专利有效专利

申请号：
CN201310519815.6
IPC分类号：H04B17/00
申请日期：
2013-10-28
申请人：
深圳市共进电子股份有限公司

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法律信息

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著录项信息

专利名称	射频线路测试系统及方法
申请号	CN201310519815.6	申请日期	2013-10-28
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日	2014-02-05	公开/公告号	CN103560841A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	H04B17/00 ? IPC结构图谱： H 电学 H9 电学 H04 电通信技术 H04B 传输〔4〕 H04B17/00 监控；测试（有线传输系统的入H04B3/46；监控或测试除无线电波外的电磁波传输系统的装置入H04B10/07）〔2，2015.01〕	IPC分类号	H;0;4;B;1;7;/;0;0查看分类表>
申请人	深圳市共进电子股份有限公司	申请人地址	广东省深圳市南山区南海大道1019号南山医疗器械产业园B116、B118；A211-A213、B201-B213；A311-313；B411-413 变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	深圳市共进电子股份有限公司	当前权利人	深圳市共进电子股份有限公司
发明人	李津;祝明明;杨国胜
代理机构	深圳市深佳知识产权代理事务所（普通合伙）	代理人	唐华明

摘要

本发明公开了一种射频线路测试系统及方法，包括：测试计算机PC，用于预设测试信号，且将测试信号发送至信号发生器与射频信号测试分析仪、以及分析所获得的待测射频线路的衰减值的正确性；信号发生器，与测试PC相连，用于产生预设测试信号，并将产生的预设测试信号发送至转换板；转换板，与信号发生器相连，用于传输预设射频信号以及匹配各种测试类型的待测射频线路；射频信号测试分析仪，分别与测试PC和转换板相连，用于接收测试信号，并根据接收的测试信号和预设测试信号，获得待测射频线路的衰减值；其中，射频信号测试分析仪通过待测射频线路与转换板相连。采用本发明的系统及方法，可减小测试人员的工作量，提高测试效率。

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