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磁控溅射磁体部件、磁控溅射装置和方法

发明专利无效专利
  • 申请号:
    CN200780021242.7
  • IPC分类号:C23C14/35
  • 申请日期:
    2007-06-06
  • 申请人:
    芝浦机械电子株式会社
著录项信息
专利名称磁控溅射磁体部件、磁控溅射装置和方法
申请号CN200780021242.7申请日期2007-06-06
法律状态驳回申报国家中国
公开/公告日2009-06-24公开/公告号CN101466862
优先权暂无优先权号暂无
主分类号C23C14/35IPC分类号C;2;3;C;1;4;/;3;5查看分类表>
申请人芝浦机械电子株式会社申请人地址
日本神奈川县 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人芝浦机械电子株式会社当前权利人芝浦机械电子株式会社
发明人宇都宫信明;伊藤昭彦
代理机构永新专利商标代理有限公司代理人王英
摘要
本发明的磁控溅射磁体部件可以沿大致平行于目标的溅射表面的方向运动并且朝向该目标,所述磁控溅射磁体部件包括:内侧磁体,沿大致垂直于所述运动方向的方向延伸,所述内侧磁体的N极或S极与所述目标相对;外侧磁体,其围绕所述内侧磁体并和所示内侧磁体有间隔,所述外侧磁体和所述目标相对的磁极与所述内侧磁体的和所述目标相对的磁极相反;以及非磁性部件,设置在所述内侧磁体和所述外侧磁体之间并支持所述内侧磁体和所述外侧磁体。所述内侧磁体和所述外侧磁体和所述目标相对的磁极是可反转的。可以降低目标端部电子密度的不均匀性,并且使此处的等离子体密度均匀。因而,可以使目标端部的溅射率均匀,可以降低成膜对象上成膜分布的不均匀性。此外,可以降低目标蚀刻的不均匀性以改善目标利用效率。

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