具有谱特征的太赫兹快速成像装置及其方法

发明专利无效专利

申请号：
CN200610053630.0
IPC分类号：G01N23/04
申请日期：
2006-09-27
申请人：
中国计量学院

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著录项信息

专利名称	具有谱特征的太赫兹快速成像装置及其方法
申请号	CN200610053630.0	申请日期	2006-09-27
法律状态	撤回	申报国家	中国
公开/公告日	2007-04-04	公开/公告号	CN1940542
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01N23/04 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01N （除免疫测定法以外包括酶或微生物的测量或试验入C12M，C12Q） G01N23/00 利用波或粒子辐射来测试或分析材料，例如X射线、（或中子，未包括在G01N3/00至G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00）〔1，2006.01〕 G01N23/02 通过使辐射透过材料 G01N23/04 并形成材料的图片〔1，2006.01，2018.01〕	IPC分类号	G;0;1;N;2;3;/;0;4查看分类表>
申请人	中国计量学院	申请人地址	浙江省杭州市下沙高教园区学源街变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	中国计量学院	当前权利人	中国计量学院
发明人	汪伟;何金龙;洪治
代理机构	杭州求是专利事务所有限公司	代理人	张法高

摘要

本发明公开了一种具有谱特征的太赫兹快速成像装置及其方法。装置：计算机分别与D/A转换器和二维移动平台相连接；D/A转换器与返波振荡器、斩波器、平面反射镜、离轴抛物镜、二维移动平台、离轴抛物镜、THz探测器、锁相放大器、A/D转换器与计算机相连。方法：预先把扫描空间平均划分成若干子区域，在把每个子区域空间均分成若干个像素点，并对每个子区域内的像素用不同的THz波频率进行编码；然后按设定的频率编码用THz波扫描待测物体，获得待测物体的带有谱特征的THz图像。本发明把THz频谱分析与空间成像相结合，成像速度快，空间分辨率和频谱分辨率高，对物品识别快，根据实际需要调节谱分辨率和空间分辨率以及扫描频段来检测不同物质和满足其它检测要求。

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