芯片推力测试方法

发明专利有效专利

申请号：
CN202010114622.2
IPC分类号：G01N19/04;G01M13/00;G01B7/00
申请日期：
2020-02-25
申请人：
佛山市诺普材料科技有限公司

基础信息

权利要求

说明书

PDF全文

法律信息

引证文献

著录项信息

专利名称	芯片推力测试方法
申请号	CN202010114622.2	申请日期	2020-02-25
法律状态	实质审查	申报国家	中国
公开/公告日	2020-06-16	公开/公告号	CN111289433A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01N19/04 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01N （除免疫测定法以外包括酶或微生物的测量或试验入C12M，C12Q） G01N19/00 用机械方法测试材料（G01N 3/00至G01N 17/00优先） G01N19/04 测量材料之间的附着力，例如密封带的，涂层的	IPC分类号	G;0;1;N;1;9;/;0;4;;;G;0;1;M;1;3;/;0;0;;;G;0;1;B;7;/;0;0查看分类表>
申请人	佛山市诺普材料科技有限公司	申请人地址	广东省佛山市南海区狮山镇松岗桃园东路自编38号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	佛山市诺普材料科技有限公司	当前权利人	佛山市诺普材料科技有限公司
发明人	彭涛;丁勇
代理机构	广州市越秀区哲力专利商标事务所（普通合伙）	代理人	舒剑晖

摘要

本发明公开了一种芯片推力测试方法，使用芯片推力测试设备对芯片进行推力测试，该设备包括基座，以及安装于基座上的夹具、推力测试仪、第一X向横移驱动机构、Z向升降驱动机构以及指示装置，该方法包括起点位置确定步骤、施力点确定步骤；起点位置确定步骤：使推力测试仪靠近位于夹具上的支架，直至推力测试仪上的顶针与支架的顶面接触为止，以点亮指示灯，此时顶针所在的位置为起点位置；施力点确定步骤：以上述起点位置为参考点，促使推力测试仪向上移动设定位移，并使推力测试仪靠近芯片的侧部，直至顶针与芯片的侧部接触，此时顶针所在的位置为施力点位置。其可实现精准定位，能够提高检测精度的同时，还可提高检测效率，从而降低成本。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有被任何外部专利所引用！

我浏览过的专利

专利服务由北京酷爱智慧知识产权代理公司提供