等离子体分光分析方法及等离子体分光分析装置

发明专利无效专利

申请号：
CN201710599681.1
IPC分类号：G01N21/66
申请日期：
2017-07-21
申请人：
爱科来株式会社

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著录项信息

专利名称	等离子体分光分析方法及等离子体分光分析装置
申请号	CN201710599681.1	申请日期	2017-07-21
法律状态	撤回	申报国家	中国
公开/公告日	2018-01-30	公开/公告号	CN107643279A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01N21/66 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01N （除免疫测定法以外包括酶或微生物的测量或试验入C12M，C12Q） G01N21/00 利用光学手段，即利用红外光、可见光；或紫外光来测试或分析材料（G01N 3/00至G01N 19/00优先） G01N21/62 所测试的材料在其中被激发，因之引起材料发光或入射光的波长发生变化的系统〔3〕 G01N21/66 电激发的，例如电发光〔3〕	IPC分类号	G;0;1;N;2;1;/;6;6查看分类表>
申请人	爱科来株式会社	申请人地址	日本京都府变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	爱科来株式会社	当前权利人	爱科来株式会社
发明人	高须刚
代理机构	中原信达知识产权代理有限责任公司	代理人	高培培;车文

摘要

本发明提供一种等离子体分光分析方法及等离子体分光分析装置，分析灵敏度高且抑制了例如试料分析时的分析误差的产生。本发明的等离子体分光分析方法包括：浓缩工序，包括在试料的存在下对一对电极进行电压施加的电压施加工序，通过所述电压施加来将所述试料中的分析对象物浓缩于至少一方的电极的附近；及检测工序，通过向所述一对电极施加电压而产生等离子体，对因所述等离子体而产生的所述分析对象物的发光进行检测，所述浓缩工序中的至少一部分的期间的电压施加时的一对电极间的电流恒定。

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