一种形状记忆合金应变传感器的应变值的测定方法

发明专利无效专利

申请号：
CN201710855376.4
IPC分类号：G01B7/16
申请日期：
2017-09-20
申请人：
上海交通大学;上海浦东路桥建设股份有限公司;上海浦兴路桥建设工程有限公司

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专利名称	一种形状记忆合金应变传感器的应变值的测定方法
申请号	CN201710855376.4	申请日期	2017-09-20
法律状态	驳回	申报国家	中国
公开/公告日	2018-03-02	公开/公告号	CN107747902A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01B7/16 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01B 长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量 G01B7/00 以采用电或磁的方法为特征的计量设备 G01B7/16 用于计量固体的变形，例如电阻应变仪	IPC分类号	G;0;1;B;7;/;1;6查看分类表>
申请人	上海交通大学;上海浦东路桥建设股份有限公司;上海浦兴路桥建设工程有限公司	申请人地址	上海市闵行区东川路800号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	上海交通大学,上海浦东路桥建设股份有限公司,上海浦兴路桥建设工程有限公司	当前权利人	上海交通大学,上海浦东路桥建设股份有限公司,上海浦兴路桥建设工程有限公司
发明人	左舜贵;施曙东;金明江;许严;陈韬;金学军
代理机构	上海光华专利事务所（普通合伙）	代理人	许亦琳

摘要

本发明提供一种形状记忆合金应变传感器的应变值的测定方法，具体包括以下步骤：1）取形状记忆合金分别作为测试传感器和参照传感器；2）采用电阻率测试系统对未变形的测试传感器和参照传感器分别进行测定，计算参照传感器和未变形的测试传感器的电阻率及其差值；3）采用电阻率测试系统对变形的测试传感器和参照传感器分别进行测定，计算参照传感器和变形的测试传感器的电阻率及其差值；4）根据电阻率变化值，计算得到测试传感器的应变值。本发明提供的一种形状记忆合金应变传感器的应变值的测定方法，实现对结构变形和位移的高精度实时监测，可极大程度上消除形状记忆合金应变传感器由于不同测试环境或预应变导致的测量误差。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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