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用于检查由导电材料构成的物体的方法

发明专利无效专利
  • 申请号:
    CN01814485.3
  • IPC分类号:G01N27/90
  • 申请日期:
    2001-08-22
  • 申请人:
    国际壳牌研究有限公司
著录项信息
专利名称用于检查由导电材料构成的物体的方法
申请号CN01814485.3申请日期2001-08-22
法律状态权利终止申报国家中国
公开/公告日2003-10-08公开/公告号CN1447918
优先权暂无优先权号暂无
主分类号G01N27/90IPC分类号G;0;1;N;2;7;/;9;0查看分类表>
申请人国际壳牌研究有限公司申请人地址
荷兰海牙 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人国际壳牌研究有限公司当前权利人国际壳牌研究有限公司
发明人保陆斯·卡洛陆斯·尼克拉斯·科劳森;马克·西奥多尔·陆易杰尔;约翰·范·德·斯蒂恩
代理机构中国国际贸易促进委员会专利商标事务所代理人付建军
摘要
一种使用探测器(4)对导电体(2)实施检查以便检测出所存在的异常结构(15,20)的方法,该探测器(4)包括一个发射器线圈(6)和接收器线圈(8),根据本发明的方法包括以下步骤:(a)在需要检查的物体(2)的邻近探测器的表面(12)上选择一组点;(b)从该组点中选择第一检查点;(c)将探测器定位在被选择的检查点处,在物体中感应出涡流电流并确定由该涡流电流产生的电磁场的特征值Φ;(d)从该组点中选择下一个检查点并重复步骤(c)直到所有的检查点都轮上一遍;和(e)如果特征值Φ与标准量明显不同,推断在检测点出现异常结构。

专利服务由北京酷爱智慧知识产权代理公司提供