检查检验装置的方法和建立检验装置的测量变量的方法

发明专利有效专利

申请号：
CN201110095628.0
IPC分类号：G01N21/93
申请日期：
2011-04-14
申请人：
株式会社高永科技

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著录项信息

专利名称	检查检验装置的方法和建立检验装置的测量变量的方法
申请号	CN201110095628.0	申请日期	2011-04-14
法律状态	暂无	申报国家	中国
公开/公告日	2011-11-30	公开/公告号	CN102262095A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01N21/93 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01N （除免疫测定法以外包括酶或微生物的测量或试验入C12M，C12Q） G01N21/00 利用光学手段，即利用红外光、可见光；或紫外光来测试或分析材料（G01N 3/00至G01N 19/00优先） G01N21/84 专用于特殊应用的系统〔3〕 G01N21/88 测试瑕疵、缺陷或污点的存在〔3〕 G01N21/93 检测标准；校准〔7〕	IPC分类号	G;0;1;N;2;1;/;9;3查看分类表>
申请人	株式会社高永科技	申请人地址	韩国首尔变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	株式会社高迎科技	当前权利人	株式会社高迎科技
发明人	柳希昱
代理机构	北京天昊联合知识产权代理有限公司	代理人	顾红霞;何胜勇

摘要

本发明公开了一种检查检验装置的方法和建立检验装置的测量变量的方法。为了建立检验装置的照明强度，将检验板安装在检验装置中。接着，调整由检验装置的照相机获取的拍摄图像的频率分布图的宽度，以避开暗区和亮区。其后，通过将频率分布图调整至图的中部附近，来调整检验装置的照明强度。于是，可以缩短存储在作业文件中的检验状况的设定时间，以增加用户便捷性，并且可以减小由错误建立导致的测量误差，以提高检验精度。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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