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一种半导体异质结构制备方法及其用途

发明专利有效专利
  • 申请号:
    CN201811166674.3
  • IPC分类号:H01L21/335;H01L29/778;H01L29/36
  • 申请日期:
    2018-10-08
  • 申请人:
    北京大学;合肥彩虹蓝光科技有限公司
著录项信息
专利名称一种半导体异质结构制备方法及其用途
申请号CN201811166674.3申请日期2018-10-08
法律状态实质审查申报国家中国
公开/公告日2020-04-14公开/公告号CN111009468A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号H01L21/335IPC分类号H;0;1;L;2;1;/;3;3;5;;;H;0;1;L;2;9;/;7;7;8;;;H;0;1;L;2;9;/;3;6查看分类表>
申请人北京大学;合肥彩虹蓝光科技有限公司申请人地址
北京市海淀区颐和园路5号北京大学 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人北京大学,合肥彩虹蓝光科技有限公司当前权利人北京大学,合肥彩虹蓝光科技有限公司
发明人纪攀峰;沈波;杨学林;冯玉霞;唐军;陶淳;齐胜利;潘尧波
代理机构上海光华专利事务所(普通合伙)代理人王华英
摘要
本发明提供一种半导体异质结构制备方法及其用途,所述制备方法包括,提供一衬底;于衬底上形成一成核层;于成核层上形成第一缓冲层;于第一缓冲层上形成第二缓冲层;于第一缓冲层上形成一沟道层;于沟道层上形成一势垒层,势垒层和沟道层构成异质结构;其中,第一缓冲层具有第一掺杂浓度,第二缓冲层具有第二掺杂浓度,第一掺杂浓度大于第二掺杂浓度。利用本发明,在半导体异质结构中引入至少两种掺杂浓度缓冲层,能同时兼顾高阻缓冲层电阻率与沟道层晶体质量的要求,不仅制备简单,而且可大幅降低沟道层的缺陷密度,提高半导体异质结构的晶体质量,改善器件击穿电压和电流崩坍效应,可应用于低成本的高频、高功率器件的研制。

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