一种半导体测试程序阈值更新的方法及系统

发明专利有效专利

申请号：
CN202110770207.7
IPC分类号：G06F8/65;G01R31/28
申请日期：
2021-07-07
申请人：
安测半导体技术（江苏）有限公司

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著录项信息

专利名称	一种半导体测试程序阈值更新的方法及系统
申请号	CN202110770207.7	申请日期	2021-07-07
法律状态	实质审查	申报国家	中国
公开/公告日	2021-09-17	公开/公告号	CN113407219A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G06F8/65 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G06 计算；推算；计数 G06F 电数字数据处理（基于特定计算模型的计算机系统入G06N） G06F8/00 软件工程设计（测试或调试入G06F 11/36；软件项目管理、规划或组织入G06Q 10/06）〔2018.01〕 G06F8/60 软件部署〔2018.01〕 G06F8/65 更新（安全装置入G06F 21/57）〔2018.01〕	IPC分类号	G;0;6;F;8;/;6;5;;;G;0;1;R;3;1;/;2;8查看分类表>
申请人	安测半导体技术（江苏）有限公司	申请人地址	江苏省扬州市高新技术产业开发区南区创富工厂1号楼1-5层变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	安测半导体技术（江苏）有限公司	当前权利人	安测半导体技术（江苏）有限公司
发明人	苏广峰;姜伟伟
代理机构	北京文苑专利代理有限公司	代理人	于利晓

摘要

本发明提供了一种半导体测试程序阈值更新的方法及系统，该方法包括：测试机对芯片进行测试，解析测试数据，将解析后的测试数据上传给服务器；服务器接收解析后的测试数据，将接收的测试数据保存到服务器的数据库中；根据取样参数从数据库中提取样本值，根据样本值得到第一动态阈值和第二动态阈值；获取第一动态阈值和第二动态阈值；将芯片测试的量测值与第一动态阈值和第二动态阈值进行比较，判断芯片为良品还是不良品。本申请为车规/军工等大量需求高可靠性芯片的测试提供解决方案，提高了测试效率以及测试的便利性，大大降低了不良品率。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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该专利没有被任何外部专利所引用！

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