一种多次反射光学样品分析系统

发明专利无效专利

申请号：
CN201410687155.7
IPC分类号：G02B5/00;G02B1/10;G02B1/11;G02B3/00;G01N21/01
申请日期：
2014-11-25
申请人：
苏州谱道光电科技有限公司

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著录项信息

专利名称	一种多次反射光学样品分析系统
申请号	CN201410687155.7	申请日期	2014-11-25
法律状态	驳回	申报国家	中国
公开/公告日	2016-05-25	公开/公告号	CN105607166A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G02B5/00 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G02 光学 G02B 光学元件、系统或仪器（G02F优先；专用于照明装置或系统的光学元件入F21V 1/00至F21V 13/00；测量仪器见G01类的有关小类，例如，光学测距仪入G01C；光学元件、系统或仪器的测试入G01M 11/00；眼镜入G02C；摄影、放映或观看用的装置或设备入G03B；声透镜入G10K 11/30；电子和离子“光学”入H01J；X射线“光学”入H01J，H05G 1/00；结构上与放电管相组合的光学元件入H01J 5/16，H01J 29/89，H01J 37/22；微波“光学”入H01Q；光学元件与电视接收机的组合装置入H04N 5/72；彩色电视系统中的光学系统或装置入H04N 9/00；专门适用于透明或反射区的加热装置入H05B 3/84）〔1，7〕 G02B5/00 除透镜外的光学元件（光波导入G02B 6/00；光学逻辑元件入G02F 3/00）〔4〕	IPC分类号	G;0;2;B;5;/;0;0;;;G;0;2;B;1;/;1;0;;;G;0;2;B;1;/;1;1;;;G;0;2;B;3;/;0;0;;;G;0;1;N;2;1;/;0;1查看分类表>
申请人	苏州谱道光电科技有限公司	申请人地址	江苏省苏州市苏州工业园区仁爱路166号明德楼214 变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	苏州谱道光电科技有限公司	当前权利人	苏州谱道光电科技有限公司
发明人	赵辉;邓文平
代理机构	北京集佳知识产权代理有限公司	代理人	常亮

摘要

本发明公开了一种多次反射光学样品分析系统，所述系统包括至少一个第一光学器件，所述第一光学器件包括至少两个可分离设置成不同光学器件的功能区域，至少两个功能区域集成为一体的第一光学器件，多次反射光学样品分析系统中的光路至少两次通过待分析样品。本发明光学样品分析系统中的第一光学器件将第一区域和第二区域集成化进行设计，使得整个多次反射光学样品分析系统的结构简单，性能稳定、可靠。

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