电子元件测试装置

1.一种电子元件测试装置，其特征在于，包括：
测试座(10)，所述测试座(10)用于放置电子元件；
压接机构(20)，所述压接机构(20)包括承载板(21)及至少两个测试压头(22)，至少两个所述测试压头(22)均安装在所述承载板(21)；及
驱动机构(30)，所述驱动机构(30)与所述承载板(21)驱动连接，用于带动所述承载板(21)做升降运动，使所述承载板(21)带动至少两个所述测试压头(22)分别压接在所述测试座(10)的电子元件上。
2.根据权利要求1所述的电子元件测试装置，其特征在于，所述承载板(21)的侧部设有第一导向部(211)；
所述电子元件测试装置还包括第二导向部(40)，所述第二导向部(40)能够与所述第一导向部(211)滑动配合；所述驱动机构(30)连接于所述第二导向部(40)，用于带动所述第二导向部(40)平移，使所述承载板(21)在所述第一导向部(211)与所述第二导向部(40)的配合下能够做升降运动。
3.根据权利要求2所述的电子元件测试装置，其特征在于，所述第一导向部(211)包括能够与所述第二导向部(40)滑动配合的斜槽(2111)，所述斜槽(2111)相对所述承载板(21)的高度方向倾斜设置；
所述第一导向部(211)还包括能够与所述第二导向部(40)滑动配合的横槽(2112)，所述横槽(2112)设于所述斜槽(2111)的顶部，并与所述斜槽(2111)连通，所述横槽(2112)沿所述第二导向部(40)的平移方向延伸设置。
4.根据权利要求2所述的电子元件测试装置，其特征在于，所述电子元件测试装置还包括对应所述第一导向部(211)设置的导轨(60)及滑块(50)，所述驱动机构(30)连接于所述滑块(50)；所述第二导向部(40)设于所述滑块(50)朝向所述第一导向部(211)的一侧，并在所述导轨(60)与所述滑块(50)的配合下做平移运动。
5.根据权利要求2所述的电子元件测试装置，其特征在于，所述承载板(21)的板面设有至少一个导向孔，所述导向孔内穿设有沿所述承载板(21)高度方向延伸的导向轴(212)，所述承载板(21)在所述第一导向部(211)与所述第二导向部(40)的滑动配合下能够沿所述导向轴(212)移动。
6.根据权利要求2至5任一项所述的电子元件测试装置，其特征在于，所述驱动机构(30)包括动力件(31)及与所述动力件(31)驱动连接的连杆组件(32)，所述连杆组件(32)与所述第二导向部(40)连接。
7.根据权利要求6所述的电子元件测试装置，其特征在于，所述连杆组件(32)包括与所述动力件(31)输出轴驱动连接的第一连杆(321)、与所述第一连杆(321)活动连接的第二连杆(322)、与所述第二连杆(322)活动连接的第三连杆(323)、及与所述第三连杆(323)活动连接的第四连杆(324)，所述第四连杆(324)与所述第二导向部(40)活动连接；
所述第一连杆(321)设有第一旋转中心部(3211)，所述第一连杆(321)能够绕所述第一旋转中心部(3211)旋转；所述第三连杆(323)设有第二旋转中心部(3231)，所述第三连杆(323)能够绕所述第二旋转中心部(3231)旋转。
8.根据权利要求7所述的电子元件测试装置，其特征在于，所述第一导向部(211)与所述第二导向部(40)均设有至少两个，至少两个所述第一导向部(211)分别设于所述承载板(21)的两侧部，至少两个所述第二导向部(40)分别设于所述承载板(21)的两侧；
所述第二连杆(322)、所述第三连杆(323)及所述第四连杆(324)均设有两个，其中一个所述第二连杆(322)活动连接于所述第一连杆(321)的中部，另外一个所述第二连杆(322)活动连接于所述第一连杆(321)远离所述动力件(31)的一端；两个所述第四连杆(324)分别活动连接于所述承载板(21)两侧的至少两个所述第二导向部(40)，并通过两个所述第三连杆(323)分别与两个所述第二连杆(322)活动一一对应连接。
9.根据权利要求1至5任一项所述的电子元件测试装置，其特征在于，所述压接机构(20)包括安装在所述承载板(21)板面的膜片气缸(23)，所述膜片气缸(23)与所述测试压头(22)驱动连接，用于带动所述测试压头(22)做升降运动；
所述压接机构(20)还包括浮动结构(24)，所述浮动结构(24)设于所述膜片气缸(23)与所述测试压头(22)之间。
10.根据权利要求1至5任一项所述的电子元件测试装置，其特征在于，所述电子元件测试装置还包括壳体(70)，所述壳体(70)的顶部设有与所述承载板(21)适配的开口，所述承载板(21)安装在所述开口，并与所述壳体(70)围成测试腔(71)；所述压接机构(20)与所述测试座(10)均位于所述测试腔(71)内。

电子元件测试装置\n技术领域\n[0001] 本实用新型涉及电子元件测试技术领域，特别是涉及一种电子元件测试装置。\n背景技术\n[0002] 电子元件是电子信息产业的核心，制造完成后，需要采用电子元件测试装置对电\n子元件的性能进行测试。具体将电子元件放置在测试工位上，电子元件测试装置向下运动\n压在电子元件上进行压接测试。然而，常见电子元件测试装置的每个测试工位均采用一个\n气缸进行压接，成本高，结构复杂。\n实用新型内容\n[0003] 基于此，有必要提供一种电子元件测试装置，简化结构，降低成本。\n[0004] 一种电子元件测试装置，包括：\n[0005] 测试座，所述测试座用于放置电子元件；\n[0006] 压接机构，所述压接机构包括承载板及至少两个测试压头，至少两个所述测试压\n头均安装在所述承载板；及\n[0007] 驱动机构，所述驱动机构与所述承载板驱动连接，用于带动所述承载板做升降运\n动，使所述承载板带动至少两个所述测试压头分别压接在所述测试座的电子元件上。\n[0008] 在其中一个实施例中，所述承载板的侧部设有第一导向部；所述电子元件测试装\n置还包括第二导向部，所述第二导向部能够与所述第一导向部滑动配合；所述驱动机构连\n接于所述第二导向部，用于带动所述第二导向部平移，使所述承载板在所述第一导向部与\n所述第二导向部的配合下能够做升降运动。\n[0009] 在其中一个实施例中，所述第一导向部包括能够与所述第二导向部滑动配合的斜\n槽，所述斜槽相对所述承载板的高度方向倾斜设置；所述第一导向部还包括能够与所述第\n二导向部滑动配合的横槽，所述横槽设于所述斜槽的顶部，并与所述斜槽连通，所述横槽沿\n所述第二导向部的平移方向延伸设置。\n[0010] 在其中一个实施例中，所述电子元件测试装置还包括对应所述第一导向部设置的\n导轨及滑块，所述驱动机构连接于所述滑块；所述第二导向部设于所述滑块朝向所述第一\n导向部的一侧，并在所述导轨与所述滑块的配合下做平移运动。\n[0011] 在其中一个实施例中，所述承载板的板面设有至少一个导向孔，所述导向孔内穿\n设有沿所述承载板高度方向延伸的导向轴，所述承载板在所述第一导向部与所述第二导向\n部的滑动配合下能够沿所述导向轴移动。\n[0012] 在其中一个实施例中，所述驱动机构包括动力件及与所述动力件驱动连接的连杆\n组件，所述连杆组件与所述第二导向部连接。\n[0013] 在其中一个实施例中，所述连杆组件包括与所述动力件输出轴驱动连接的第一连\n杆、与所述第一连杆活动连接的第二连杆、与所述第二连杆活动连接的第三连杆、及与所述\n第三连杆活动连接的第四连杆，所述第四连杆与所述第二导向部活动连接；所述第一连杆\n设有第一旋转中心部，所述第一连杆能够绕所述第一旋转中心部旋转；所述第三连杆设有\n第二旋转中心部，所述第三连杆能够绕所述第二旋转中心部旋转。\n[0014] 在其中一个实施例中，所述第一导向部与所述第二导向部均设有至少两个，至少\n两个所述第一导向部分别设于所述承载板的两侧部，至少两个所述第二导向部分别设于所\n述承载板的两侧；所述第二连杆、所述第三连杆及所述第四连杆均设有两个，其中一个所述\n第二连杆活动连接于所述第一连杆的中部，另外一个所述第二连杆活动连接于所述第一连\n杆远离所述动力件的一端；两个所述第四连杆分别活动连接于所述承载板两侧的至少两个\n所述第二导向部，并通过两个所述第三连杆分别与两个所述第二连杆活动一一对应连接。\n[0015] 在其中一个实施例中，所述压接机构包括安装在所述承载板板面的膜片气缸，所\n述膜片气缸与所述测试压头驱动连接，用于带动所述测试压头做升降运动；所述压接机构\n还包括浮动结构，所述浮动结构设于所述膜片气缸与所述测试压头之间。\n[0016] 在其中一个实施例中，所述电子测试装置还包括壳体，所述壳体的顶部设有与所\n述承载板适配的开口，所述承载板安装在所述开口，并与所述壳体围成测试腔；所述压接机\n构与所述测试座均位于所述测试腔内。\n[0017] 上述的电子元件测试装置，测试作业时，启动驱动机构，驱动机构对承载板施加作\n用力，带动承载板做下降运动，进而带动承载上上所有的测试压头压接在电子元件进行测\n试作业。待测试作业完成后，驱动机构对承载板施加作用力，带动承载板做上升运动，进而\n带动承载板上所有的测试压头上抬至与电子元件分离。如此，相比于每个测试工位均设置\n一个气缸进行压接，本实施例采用驱动机构带动承载板做升降运动，进而带动承载板上所\n有的测试压头进行压接测试，这样能够简化结构，降低成本。\n附图说明\n[0018] 构成本申请的一部分的附图用来提供对本实用新型的进一步理解，本实用新型的\n示意性实施例及其说明用于解释本实用新型，并不构成对本实用新型的不当限定。\n[0019] 为了更清楚地说明本实用新型实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需\n要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本实用新型的一些实\n施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图\n获取其他的附图。\n[0020] 图1为本实用新型一实施例的电子元件测试装置在初始状态下的结构示意图；\n[0021] 图2为图1所示的电子元件测试装置在测试作业时的结构示意图；\n[0022] 图3为图1所示的电子元件测试装置的部分结构示意图一；\n[0023] 图4为图3所示的电子元件测试装置的部分结构示意图二；\n[0024] 图5为图4中A处的局部放大示意图；\n[0025] 图6为图1所示的电子元件测试装置在俯视状态下的简图；\n[0026] 图7为图1所示的电子元件测试装置的压接机构的结构示意图。\n[0027] 附图标号说明：10、测试座；11、测试工位；20、压接机构；21、承载板；211、第一导向\n部；2111、斜槽；2112、横槽；212、导向轴；22、测试压头；23、膜片气缸；24、浮动结构；30、驱动机构；31、动力件；32、连杆组件；321、第一连杆；3211、第一旋转中心部；322、第二连杆；323、\n第三连杆；3231、第二旋转中心部；324、第四连杆；40、第二导向部；50、滑块；60、导轨；70、壳\n体；71、测试腔。\n具体实施方式\n[0028] 为使本实用新型的上述目的、特征和优点能够更加明显易懂，下面结合附图对本\n实用新型的具体实施方式做详细的说明。在下面的描述中阐述了很多具体细节以便于充分\n理解本实用新型。但是本实用新型能够以很多不同于在此描述的其它方式来实施，本领域\n技术人员可以在不违背本实用新型内涵的情况下做类似改进，因此本实用新型不受下面公\n开的具体实施例的限制。\n[0029] 请参阅图1、图2和图3，本实用新型一实施例的电子元件测试装置，包括测试座10、\n压接机构20及驱动机构30。测试座10用于放置电子元件。压接机构20包括承载板21及至少\n两个测试压头22，至少两个测试压头22均安装在承载板21。驱动机构30与承载板21驱动连\n接，用于带动承载板21做升降运动，使承载板21带动至少两个测试压头22分别压接在测试\n座10的电子元件上。具体地，测试座10设有至少两个测试工位11，电子元件放置在测试工位\n11。\n[0030] 上述的电子元件测试装置，测试作业时，启动驱动机构30，驱动机构30对承载板21\n施加作用力，带动承载板21做下降运动，进而带动承载板21上所有的测试压头22压接在电\n子元件进行测试作业。待测试作业完成后，驱动机构30对承载板21施加作用力，带动承载板\n21做上升运动，进而带动承载板21上所有的测试压头22上抬至与电子元件分离。如此，相比\n于每个测试工位11均设置一个气缸进行压接，本实施例采用驱动机构30带动承载板21做升\n降运动，进而带动承载板21上所有的测试压头22进行压接测试，这样能够简化结构，降低成\n本。\n[0031] 在一个实施例中，参阅图3、图4和图5，承载板21的侧部设有第一导向部211。电子\n元件测试装置还包括第二导向部40，第二导向部40能够与第一导向部211滑动配合。驱动机\n构30连接于第二导向部40，用于带动第二导向部40平移，使承载板21在第一导向部211与第\n二导向部40的配合下能够做升降运动。测试作业时，启动驱动机构30，驱动机构30带动第二\n导向部40做平移运动，第一导向部211与第二导向部40滑动配合，使得承载板21向下运动，\n进而带动测试压头22压在电子元件进行测试作业。待测试作业完成后，驱动机构30带动第\n二导向部40反向移动，承载板21向上运动，进而带动测试压头22也向上运动直至与电子元\n件分离。\n[0032] 进一步地，参阅图3、图4和图5，第一导向部211包括与第二导向部40滑动配合的斜\n槽2111，斜槽2111相对承载板21的高度方向倾斜设置。测试作业时，驱动机构30带动第二导\n向部40做平移运动，第二导向部40在平移的过程中对斜槽2111的槽壁施加作用力，使得承\n载板21向下运动，例如承载板21向下运动至第二导向部40与斜槽2111的顶部抵触配合。待\n测试作业完成后，驱动机构30带动第二导向部40反向运动，承载板21向上运动，例如承载板\n21向上运动至第二导向部40与斜槽2111的底部抵触配合、或者第二导向部40与斜槽2111分\n离。\n[0033] 需要说明的是，参阅图5，承载板21的高度方向是指垂直于承载板21板面的方向。\n为了方便理解，采用H表示承载板21的高度方向。\n[0034] 可选地，第二导向部40包括与斜槽2111适配的凸轮导向器。当然，在其它实施例\n中，第二导向部40也可包括其它器件，不以此为限。\n[0035] 更进一步地，参阅图3、图4和图5，第一导向部211还包括能够与第二导向部40滑动\n配合的横槽2112。横槽2112位于斜槽2111的顶部，并与斜槽2111连通，横槽2112沿第二导向\n部40的平移方向延伸设置。在第二导向部40做平移运动的过程中，第二导向部40对斜槽\n2111的槽壁施加作用力，使得承载板21向下运动，直至第二导向部40与横槽2112抵触配合。\n如此，通过在斜槽2111的顶部设置横槽2112，横槽2112与第二导向部40进行抵触配合，能够\n使承载板21更好地保持下压状态，有利于提高测试稳定性。\n[0036] 在一个实施例中，参阅图5，承载板21的板面设有至少一个导向孔，导向孔内穿设\n有沿承载板21高度方向延伸的导向轴212，承载板21在第一导向部211与第二导向部40的滑\n动配合下能够沿导向轴212移动。可以理解的是，导向轴212垂直承载板21的板面设置。测试\n作业时，驱动机构30带动第二导向部40做平移运动，由于承载板21设有沿其高度方向延伸\n的导向轴212，导向轴212能够起到导向作用，确保承载板21只能沿导向轴212向上或向下运\n动。如此，导向轴212起到导向作用，使承载板21的运动具有导向性，即确保承载板21向上或\n向下运动，同时还能够提高承载板21运动的稳定性。\n[0037] 需要说明的是，导向轴212的数量可根据实际需求进行设置，在此不做具体限定。\n在本实施例中，参阅图2，导向轴212设有四个，四个导向轴212呈两排两列的方式设置在承\n载板21。\n[0038] 在一个实施例中，参阅图3，电子元件测试装置还包括对应第一导向部211设置的\n导轨60及滑块50，驱动机构30连接于滑块50。第二导向部40设于滑块50朝向第一导向部211\n的一侧，并在导轨60与滑块50的配合下做平移运动。测试作业时，驱动机构30的驱动力作用\n于滑块50，滑块50在与导轨60的配合下能够沿导轨60的延伸方向移动，进而带动第二导向\n部40做平移运动。如此，使得第二导向部40的运动具有导向性，避免第二导向部40在运动的\n过程中出现晃动等不稳定现象，进而提高承载板21做升降运动的稳定性。\n[0039] 在本实施例中，参阅图3和图4，承载板21的一侧设有两个间隔的第一导向部211，\n滑块50朝向第一导向部211的一侧对应设有两个第二导向部40。当然，在其它实施例中，第\n一导向部211和第二导向部40的数量可根据实际需求进行设置，在此不做具体限定。\n[0040] 在一个实施例中，参阅图3和图6，驱动机构30包括动力件31及与动力件31驱动连\n接的连杆组件32，连杆组件32与第二导向部40连接。如此，通过动力件31与连杆组件32的配\n合带动第二导向部40做平移运动，简化结构，降低成本。此外，还能够减少该电子元件测试\n装置在高度方向占用的空间。\n[0041] 可选地，动力件31为电推杆，电推杆横向设置。当然，在其它实施例中，动力件31也\n可为气缸等，不以此为限。\n[0042] 进一步地，参阅图3和图6，连杆组件32包括与动力件31输出轴驱动连接的第一连\n杆321、与第一连杆321活动连接的第二连杆322、与第二连杆322活动连接的第三连杆323、\n及与第三连杆323活动连接的第四连杆324，第四连杆324与第二导向部40活动连接。进一步\n地，第一连杆321设有第一旋转中心部3211，第一连杆321能够绕第一旋转中心部3211旋转；\n第三连杆323设有第二旋转中心部3231，第三连杆323能够绕第二旋转中心部3231旋转。需\n要说明的是，初始状态下，动力件31的输出轴处于收缩状态，测试压头22与电子元件分离。\n测试作业时，动力件31的输出轴伸出，使得第一连杆321绕第一旋转中心部3211做旋转运\n动，带动第二连杆322运动，第三连杆323在第二连杆322的带动下绕第二旋转中心部3231旋\n转，带动第四连杆324运动，进而带动第二导向部40做平移运动，使得承载板21在第二导向\n部40与第一导向部211的配合下压在电子元件上。如此，通过第一连杆321、第二连杆322、第\n三连杆323及第四连杆324的配合下，能够带动第二导向部40做平移运动，降低成本，同时还\n有利于减少该电子元件测试装置在高度方向占用的空间。\n[0043] 更进一步地，参阅图3和图6，第一导向部211与第二导向部40均设有至少两个，至\n少两个第一导向部211分别设于承载板21的两侧部，至少两个第二导向部40分别设于承载\n板21的两侧。第二连杆322、第三连杆323及第四连杆324均设有两个，其中一个第二连杆322\n活动连接于第一连杆321的中部，另外一个第二连杆322活动连接于第一连杆321远离动力\n件31的一端。两个第四连杆324分别与承载板21两侧的第二导向部40连接，并通过两个第三\n连杆323分别与两个第二连杆322活动连接。如此，能够有效确保承载板21两侧运动的同步\n性，使得承载板21的运动更稳定。\n[0044] 在本实施例中，参阅图3和图6，第一导向部211设有四个，其中两个第一导向部211\n间隔地设于承载板21的一侧，另外两个第一导向部211间隔地设于承载板21的另一侧。导轨\n60与滑块50均设有两个，两个导轨60及两个滑块50分别设于承载板21的两侧。每个滑块50\n朝向第一导向部211的一侧设有两个第二导向部40。滑块50与上述实施例的驱动机构30连\n接，在此不再赘述。\n[0045] 在一个实施例中，参阅图1、图2和图7，压接机构20包括安装在承载板21板面的膜\n片气缸23。膜片气缸23与测试压头22驱动连接，用于带动测试压头22做升降运动。测试作业\n时，通过驱动机构30完成大行程运动，即驱动机构30带动承载板21及其上的所有测试压头\n22沿靠近测试座10的方向运动；然后，再通过膜片气缸23完成小行程运动，即向膜片气缸23\n内充入所需的气体，膜片气缸23带动测试压头22沿靠近测试座10的方向运动，使测试压头\n22压接在电子元件上。如此，通过驱动机构30与膜片气缸23的配合，实现测试压头22对电子\n元件的压接。相比于其它气缸，膜片气缸23的行程短，但是成本低，并且无漏气风险，压接稳\n定。\n[0046] 进一步地，压接机构20还包括浮动结构24，浮动结构24设于膜片气缸23与测试压\n头22之间。在压接的过程中，浮动结构24能够起到在XY方向浮动的效果，确保压接稳定。需\n要说明的是，浮动结构24为现有技术，在此不再赘述。\n[0047] 在一个实施例中，参阅图1，电子元件测试装置还包括壳体70，壳体70的顶部设有\n与承载板21适配的开口，承载板21安装在开口，并与壳体70围成测试腔71。压接机构20与测\n试座10均位于测试腔71内。如此，电子元件在密封的测试腔71内作业，减少外界干扰，保证\n测试结果的准确性及可靠性。\n[0048] 在本实用新型的描述中，需要理解的是，术语“中心”、“纵向”、“横向”、“长度”、“宽度”、“厚度”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”、“顺时针”、“逆时针”、“轴向”、“径向”、“周向”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的\n方位或位置关系，仅是为了便于描述本实用新型和简化描述，而不是指示或暗示所指的装\n置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本实用新型\n的限制。\n[0049] 此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性\n或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者\n隐含地包括至少一个该特征。在本实用新型的描述中，“多个”的含义是至少两个，例如两\n个，三个等，除非另有明确具体的限定。\n[0050] 在本实用新型中，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”、“固\n定”等术语应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或成一体；可以是\n机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个\n元件内部的连通或两个元件的相互作用关系，除非另有明确的限定。对于本领域的普通技\n术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本实用新型中的具体含义。\n[0051] 在本实用新型中，除非另有明确的规定和限定，第一特征在第二特征“上”或“下”\n可以是第一和第二特征直接接触，或第一和第二特征通过中间媒介间接接触。而且，第一特\n征在第二特征“之上”、“上方”和“上面”可是第一特征在第二特征正上方或斜上方，或仅仅\n表示第一特征水平高度高于第二特征。第一特征在第二特征“之下”、“下方”和“下面”可以\n是第一特征在第二特征正下方或斜下方，或仅仅表示第一特征水平高度小于第二特征。\n[0052] 需要说明的是，当元件被称为“固定于”或“设置于”另一个元件，它可以直接在另\n一个元件上或者也可以存在居中的元件。当一个元件被认为是“连接”另一个元件，它可以\n是直接连接到另一个元件或者可能同时存在居中元件。本文所使用的术语“垂直的”、“水平\n的”、“上”、“下”、“左”、“右”以及类似的表述只是为了说明的目的，并不表示是唯一的实施\n方式。\n[0053] 以上所述实施例的各技术特征可以进行任意的组合，为使描述简洁，未对上述实\n施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述，然而，只要这些技术特征的组合不存\n在矛盾，都应当认为是本说明书记载的范围。\n[0054] 以上所述实施例仅表达了本实用新型的几种实施方式，其描述较为具体和详细，\n但并不能因此而理解为对实用新型专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技\n术人员来说，在不分离本实用新型构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于\n本实用新型的保护范围。因此，本实用新型专利的保护范围应以所附权利要求为准。