非均匀温度场下绝对式光栅尺热变形检测装置及方法发明专利
申请号：CN202111018680.6
LOC分类号:G01B11/16
IPC结构图谱：
- G物理
- G0仪器
- G02光学
- G02B光学元件、系统或仪器（G02F优先；专用于照明装置或系统的光学元件入F21V 1/00至F21V 13/00；测量仪器见G01类的有关小类，例如，光学测距仪入G01C；光学元件、系统或仪器的测试入G01M 11/00；眼镜入G02C；摄影、放映或观看用的装置或设备入G03B；声透镜入G10K 11/30；电子和离子“光学”入H01J；X射线“光学”入H01J，H05G 1/00；结构上与放电管相组合的光学元件入H01J 5/16，H01J 29/89，H01J 37/22；微波“光学”入H01Q；光学元件与电视接收机的组合装置入H04N 5/72；彩色电视系统中的光学系统或装置入H04N 9/00；专门适用于透明或反射区的加热装置入H05B 3/84）〔1，7〕
- G02B21/00显微镜（目镜入G02B 25/00；偏振系统入G02B 27/28；测量显微镜入G01B 9/04；显微镜用切片机入G01N 1/06；扫描探针技术或设备入G01Q） 〔1，7〕
- G02B21/34显微镜载物片，例如，在载物片上安装试样（供研究用试样的制备入G01N 1/28；供电子显微镜分析用的物体或材料的支撑装置入H01J 37/20）
