通过透镜离焦平面的幅值恢复天线测量系统中相位的方法

发明专利有效专利

申请号：
CN202110564181.0
IPC分类号：G01R29/10;G01R29/08;G01R25/00
申请日期：
2021-05-24
申请人：
北京邮电大学

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著录项信息

专利名称	通过透镜离焦平面的幅值恢复天线测量系统中相位的方法
申请号	CN202110564181.0	申请日期	2021-05-24
法律状态	实质审查	申报国家	中国
公开/公告日	2021-09-17	公开/公告号	CN113406401A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01R29/10 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01R 测量电变量；测量磁变量（指示谐振电路的正确调谐入H03J 3/12） G01R29/00 不包括在G01R 19/00至G01R 27/00各组中的电量的测量或指示装置 G01R29/08 电磁场特性的测量 G01R29/10 天线的辐射图〔1，2006.01〕	IPC分类号	G;0;1;R;2;9;/;1;0;;;G;0;1;R;2;9;/;0;8;;;G;0;1;R;2;5;/;0;0查看分类表>
申请人	北京邮电大学	申请人地址	北京市海淀区西土城路10号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	北京邮电大学	当前权利人	北京邮电大学
发明人	俞俊生;姚远;于海洋;陈雨晴;陈天洋;陈晓东
代理机构	北京柏杉松知识产权代理事务所（普通合伙）	代理人	项京;赵元

摘要

本发明实施例提供了一种通过透镜离焦平面的幅值恢复天线测量系统中相位的方法。具体的，首先用探头采集介质透镜离焦平面的实际幅值，再将计算机随机生成的初始幅值与初始相位作为初始场的场强，再将上述初始场经介质透镜传输至离焦平面，计算出频域相位以及频域幅值，将计算得到的频域幅值和频域相位作为频域场的场强，并基于由预设离焦平面的频域场得到的空域场的场强与对应离焦平面实际场的场强，计算异构输入场的场强，再采用GS‑HIO算法对上述异构输入场进行预设次数迭代计算，得到相位恢复结果。本发明实施例中，采用GS‑HIO算法恢复相位，可加快算法的收敛速度，且通过多次迭代计算，提高了通过幅值恢复相位的准确性。

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