一种光强测量装置

实用新型专利有效专利

申请号：
CN201820429618.3
IPC分类号：G01J1/00
申请日期：
2018-03-28
申请人：
湖北光安伦科技有限公司

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法律信息

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著录项信息

专利名称	一种光强测量装置
申请号	CN201820429618.3	申请日期	2018-03-28
法律状态	暂无	申报国家	中国
公开/公告日		公开/公告号
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01J1/00 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01J 红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分，偏振、相位或脉冲特性的测量；比色法；辐射高温测定法〔2〕 G01J1/00 光度测定法，例如照相的曝光表（分光光度测定法入G01J 3/00；专用于辐射高温测定法的入G01J 5/00）	IPC分类号	G;0;1;J;1;/;0;0查看分类表>
申请人	湖北光安伦科技有限公司	申请人地址	湖北省鄂州市葛店开发区高新三路光谷联合科技城第C9栋5单元变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	湖北光安伦芯片有限公司	当前权利人	湖北光安伦芯片有限公司
发明人	吴继淸;黎浩
代理机构	北京汇泽知识产权代理有限公司	代理人	胡建文

摘要

本实用新型属于半导体技术领域，特别涉及一种光强测量装置，包括底座、连接杆、测量面板、卡环及光功率计探头；所述连接杆的一端固定于所述底座上，另一端与所述测量面板连接；所述测量面板上设有用于固定所述卡环的通孔；所述光功率计探头固定于所述卡环内。本实用新型提供的光强测量装置通过将光功率计探头固定于开环内来测量光束的光强，解决了光强测量中光功率计探头无法固定导致测量不准确的问题，使得测量光束的光强更加准确便捷。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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