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多端口存储装置的测试操作

发明专利无效专利
  • 申请号:
    CN200710096090.9
  • IPC分类号:G11C29/02
  • 申请日期:
    2007-04-13
  • 申请人:
    海力士半导体有限公司
著录项信息
专利名称多端口存储装置的测试操作
申请号CN200710096090.9申请日期2007-04-13
法律状态权利终止申报国家中国
公开/公告日2007-10-17公开/公告号CN101055767
优先权暂无优先权号暂无
主分类号G11C29/02IPC分类号G;1;1;C;2;9;/;0;2查看分类表>
申请人海力士半导体有限公司申请人地址
韩国京畿道 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人海力士半导体有限公司当前权利人海力士半导体有限公司
发明人都昌镐;郑镇一
代理机构北京市柳沈律师事务所代理人吕晓章;李晓舒
摘要
本发明提供一种多端口存储装置,其包括多个端口、多个存储体(bank)、多个全局数据总线、第一及第二I/O控制器,及测试输入/输出(I/O)控制器。所述端口执行串行I/O数据传输。所述存储体执行与所述端口的并行I/O数据传输。所述全局数据总线用于在所述端口与所述存储体之间传输数据。该第一I/O控制器控制所述端口与外部装置之间的串行数据传输。该第二I/O控制器控制所述端口与所述全局总线之间的并行数据传输。在测试操作模式期间,该测试I/O控制器基于自外部装置输入的测试命令/地址(C/A)产生测试命令且用全局数据总线来传输测试I/O数据。

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