建筑物表面缺陷检测方法及系统

发明专利无效专利

申请号：
CN201510970820.8
IPC分类号：G06T7/00;G01N21/88
申请日期：
2015-12-22
申请人：
北京光电技术研究所

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法律信息

引证文献

著录项信息

专利名称	建筑物表面缺陷检测方法及系统
申请号	CN201510970820.8	申请日期	2015-12-22
法律状态	驳回	申报国家	中国
公开/公告日	2016-05-25	公开/公告号	CN105608695A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G06T7/00 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G06 计算；推算；计数 G06T 一般的图像数据处理或产生〔6，2006.01〕 G06T7/00 图像分析〔6，2006.01，2017.01〕	IPC分类号	G;0;6;T;7;/;0;0;;;G;0;1;N;2;1;/;8;8查看分类表>
申请人	北京光电技术研究所	申请人地址	北京市东城区东皇城根北街甲20号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	北京光电技术研究所	当前权利人	北京光电技术研究所
发明人	尚砚娜;石晶欣;赵岩;蔡友发;朱君尧
代理机构	北京同立钧成知识产权代理有限公司	代理人	杨贝贝;黄健

摘要

本发明提供一种建筑物表面缺陷检测方法及系统，该方法包括：根据建筑物上的至少两个目标点在第一架设坐标系下的直角坐标和在世界坐标系下的世界坐标，确定第一映射关系，该第一映射关系为空间任意一点在第一架设坐标系下的直角坐标与在所述世界坐标系下的世界坐标的映射关系，定位建筑物表面的第一缺陷，获取第一缺陷的图像信息和在第一架设坐标系下的直角坐标；根据第一缺陷在第一架设坐标系下的直角坐标和第一映射关系，确定第一缺陷的世界坐标；根据第一缺陷在第一架设坐标系下的直角坐标和所述第一缺陷的图像信息确定所述第一缺陷的实际尺寸信息。这种基于定位的自动缺陷检测方法比较省时、省力，从而提高缺陷检测效率。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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