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用于半导体封装接地的系统、装置和方法

发明专利有效专利
  • 申请号:
    CN201580068174.4
  • IPC分类号:H01L23/00;H01L23/492;H01L23/538;H01L23/495;H01L23/498
  • 申请日期:
    2015-12-15
  • 申请人:
    高通股份有限公司
著录项信息
专利名称用于半导体封装接地的系统、装置和方法
申请号CN201580068174.4申请日期2015-12-15
法律状态授权申报国家中国
公开/公告日2017-08-01公开/公告号CN107004640A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号H01L23/00IPC分类号H;0;1;L;2;3;/;0;0;;;H;0;1;L;2;3;/;4;9;2;;;H;0;1;L;2;3;/;5;3;8;;;H;0;1;L;2;3;/;4;9;5;;;H;0;1;L;2;3;/;4;9;8查看分类表>
申请人高通股份有限公司申请人地址
美国加利福尼亚州 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人高通股份有限公司当前权利人高通股份有限公司
发明人J·H·永恩;Y·K·宋;U-M·乔;J-H·李;X·张
代理机构上海专利商标事务所有限公司代理人李小芳;袁逸
摘要
根据一些示例的半导体封装可包括:支撑板的第一部分,其被配置为RF信号连接;半导体管芯,其热耦合至该支撑板的第二部分以用于散热;紧邻第二重分布层放置的第一重分布层,其用于将第一重分布层电容性地耦合至第二重分布层;在该第一部分和第一重分布层之间延伸的第一通孔;以及紧邻第一通孔的第二通孔,其用于将第二通孔电容性地耦合至第一通孔。

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